分光设备及波长选择开关
    71.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104238122B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201410261990.4

    申请日:2014-06-12

    Abstract: 分光设备具有:光束放大光学系统,其包含各自具有彼此倾斜的一对表面的第1及第2棱镜而构成,通过使包含多个波长成分的光穿过所述第1及第2棱镜的各个表面,从而将该光扩宽;以及分光元件,其将利用光束放大光学系统进行了扩宽的光,针对多个波长成分的每个波长成分而以不同的衍射角射出。从光束放大光学系统射出的光的出射角因温度变化而产生变动的变动方向,是对从分光元件射出的各波长成分的衍射角因温度变化而产生的变动进行抑制的方向。

    激光光谱仪和用于运行激光光谱仪的方法

    公开(公告)号:CN104181126B

    公开(公告)日:2017-01-18

    申请号:CN201410225603.1

    申请日:2014-05-26

    Abstract: 本发明涉及一种激光光谱仪和用于运行激光光谱仪的方法,在激光光谱仪中将可以调谐波长的半导体激光器的光穿过包括需要测量的气体成分的混合气体和标准器结构引导到探测器上。为了在调谐范围内通过气体成分的特定的吸收谱线调谐半导体激光器的波长,半导体激光器的注入电流周期性地按照预定的电流-时间-函数变化。同时利用频率并且交替地利用匹配于吸收谱线的半值宽度的第一振幅和匹配于标准器结构的光谱宽度的第二振幅调制注入电流和进而波长。由探测到的光强度分析二次谐波,其中在利用第一振幅调制时测量吸收谱线,并在利用第二振幅调制时根据标准器结构的透射光谱使半导体激光器的波长稳定。

    用于测量周期性信号的设备及方法

    公开(公告)号:CN104870954A

    公开(公告)日:2015-08-26

    申请号:CN201380067517.6

    申请日:2013-10-22

    CPC classification number: G01J3/2803 A61B5/14551 G01J1/44 G01J3/0286 G01J3/44

    Abstract: 本发明提供一种用于测量周期性信号的设备(1),具有:第一控制单元(3),用于生成周期为T的电输入信号;光源(6),用于根据电输入信号(V1)生成定向至被测量物体(8)的光输入信号;光接收机(10),用于记录从被测量物体反射回来的信号并将其转换成电测量信号(V2),所述信号对应于在其相位和幅度方面变化的光输入信号;以及多个测量信道,该多个测量信道在光接收机(10)和第二控制单元(15)间并联连接,每个测量信道与开关元件(7)、滤波器元件(9)以及模拟数字转换器(13)串行连接,其中第二控制单元(15)适于对来自多个测量信道的测量信号进行评估,其特征在于:电测量信号(V2)被应用到多个测量信道中的每一个;第一控制单元(3)被连接到多个开关元件(7)并适于在每种情况下以不同的时间间隔连接开关元件(7);以及模拟数字转换器(13)具有小于2×1/T的最大采样率。

    光谱测定装置
    80.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102265132B

    公开(公告)日:2014-05-07

    申请号:CN200980152415.8

    申请日:2009-09-24

    Abstract: 本发明的光谱测定装置(1A)具备用于观测从测定对象试料(S)发出的被测定光的积分球(20)、以覆盖试料(S)的形式保持用于调节试料(S)温度的介质(R),并且以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位的杜瓦瓶(50)。通过使用以覆盖试料(S)的形式保持介质(R)的杜瓦瓶(50),从而就能够简便地将试料(S)调节至所希望的温度。通过以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位,从而就能够抑制来自于积分球(20)外部环境的对试料(S)的影响,并由介质(R)来调节试料(S)的温度。因此,就能够有效地将试料(S)调节至所希望的温度。

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