Sensor concentration detector includes a temperature compensation function

    公开(公告)号:JP2010512536A

    公开(公告)日:2010-04-22

    申请号:JP2009540935

    申请日:2007-12-10

    CPC classification number: G01N21/1702 G01N21/274 G01N21/3504 G01N2201/1211

    Abstract: サンプル混合物内のサンプルの濃度を検出するサンプルセンサ200であって、光源101、検出器素子、処理セクション106及びパラメータ測定手段を含む。 光源101は、サンプルの分子を励起させる光ビーム113を生成する。 検出器素子は、サンプルの励起された分子の量を検出し、前記量を指示する検出器電流を供給する。 処理セクション106は、検出器素子103に接続され、濃度を表す出力信号109を生成するために前記検出器電流を処理する。 処理セクション106は、出力波長以外の、光源101の温度依存パラメータの少なくとも1つの測定値に基づいて、光源101の温度依存波長シフトを補償するよう構成された温度補償モジュール112を含む。 パラメータ測定手段は、前記少なくとも1つの測定値を得る。

    Flaw inspection device
    75.
    发明专利
    Flaw inspection device 审中-公开
    FLAW检查设备

    公开(公告)号:JP2007248086A

    公开(公告)日:2007-09-27

    申请号:JP2006068479

    申请日:2006-03-14

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that the depth of a focus becomes shallow because a fine flaw detection sensitivity is enhanced by raising a detection magnification in a flaw inspection device, an image forming position is shifted by environmental fluctuations and flaw detection sensitivity becomes unstable.
    SOLUTION: The flaw inspection device is equipped with an XY stage loaded with a substrate to be inspected to perform scanning in a predetermined direction and a mechanism for correcting the change of an image forming position with respect to a change in temperature and atmospheric pressure in order to hold an image forming state to the best state in a system for obliquely illuminating the flaw on the substrate to be inspected to detect the same by the detection optical system arranged above the substrate to be inspected.
    COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

    Abstract translation: 解决问题:为了解决由于通过提高探伤装置中的检测倍率而提高精细的探伤灵敏度而使焦点的深度变浅的问题,图像形成位置由于环境波动和缺陷而偏移 检测灵敏度变得不稳定。 解决方案:瑕疵检查装置配备有载置有要检查的基板的XY台,以沿预定方向进行扫描,以及用于校正图像形成位置相对于温度和大气变化的变化的机构 压力,以便在用于倾斜照射待检查的基板上的缺陷的系统中将图像形成状态保持在最佳状态,以通过布置在要检查的基板上方的检测光学系统检测图像形成状态。 版权所有(C)2007,JPO&INPIT

    カロリー測定装置
    79.
    发明专利
    カロリー測定装置 有权
    CALORIE测量设备

    公开(公告)号:JP2015118009A

    公开(公告)日:2015-06-25

    申请号:JP2013261689

    申请日:2013-12-18

    Abstract: 【課題】食品のカロリーの測定精度を高めることに貢献するカロリー測定装置を提供する。 【解決手段】カロリー測定装置は、測定部20および解析装置30を有する。測定部20は、発光部、受光部24を有する。解析装置30は、補正部42、および、解析部41を有する。発光部は、近赤外線の波長を含む光を出力することにより、食品に光を照射する。受光部24は、発光部から照射されて食品から反射された反射光を受光する。補正部42は、受光部24が受光した受光量に基づいて、受光部が受光した受光量の吸光度を補正する。解析部41は、補正された吸光度に基づいて、食品のカロリーを示す解析値を算出する。 【選択図】図2

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种用于有助于提高食物卡路里测量精度的卡路里测量装置。解决方案:卡路里测量装置具有测量部分20和分析装置30.测量部分20具有光 发光部分和光接收部分24.分析装置30具有校正部分42和分析部分41.发光部分将包括近红外线波长的光发射到食物。 光接收部24接收从发光部射出的反射光并从食物反射。 校正部分42基于由光接收部分24接收的接收光量来校正由光接收部分24接收的接收光量的吸光度。分析部分41计算表示食物的热量的分析值 校正吸光度的基础。

    Automatic analyzer
    80.
    发明专利
    Automatic analyzer 有权
    自动分析仪

    公开(公告)号:JP2012149903A

    公开(公告)日:2012-08-09

    申请号:JP2011006809

    申请日:2011-01-17

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automatic analyzer without increasing a size of the analyzer and without complicating the analyzer, which is capable of detecting a measuring object with high sensitivity by correcting variations of light quantity data due to thermal deformation in an optical system caused by temperature variations in the analyzer.SOLUTION: Scattered light from a measuring object through a light-receiving window 43 is received by a detector 45a for scattered light at +θ angle and a detector 45b for scattered light at -θ angle, which are symmetrically arranged at equal angles and at equal intervals in a vertical direction about an optical axis as a center. A light source 40 is fixed by a light source holder 46 (a base member in which the light source is arranged), and the detectors 45a and 45b are arranged in a detector holder 47 (a base member in which each of the detectors is arranged) to be fixed. Thus comparing values of light quantity data from each of the detectors 45a and 45b allows a drift of the light quantity data due to thermal deformation in an optical system to be corrected.

    Abstract translation: 要解决的问题:为了提供自动分析器而不增加分析仪的尺寸,并且不会使分析仪复杂化,分析器能够通过校正由于热变形引起的光量数据的变化来检测具有高灵敏度的测量对象 光学系统由分析仪的温度变化引起。 解决方案:通过光接收窗43从测量对象散射的光被用于+θ角的散射光的检测器45a和-θ角的散射光的检测器45b接收,该等角度对称地布置 并以围绕光轴为中心的垂直方向等间隔。 光源40由光源保持器46(布置有光源的基底构件)固定,检测器45a,45b配置在检测器支架47(检测器的每一个布置的基座部件) )被固定。 因此,比较来自每个检测器45a和45b的光量数据的值允许由于待校正的光学系统中的热变形引起的光量数据的漂移。 版权所有(C)2012,JPO&INPIT

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