一种材料鉴别方法
    71.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115629092A

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN202211255758.0

    申请日:2022-10-13

    Abstract: 本申请实施例提供一种材料鉴别方法,该鉴别方法通过先确定缪子穿过待测材料产生的散射角分布标准差与待测材料的辐射长度之间的关系;再采用离散能量缪子的散射角分布拟合得到标定后的近似连续能量的缪子散射角分布以及获取连续能量的缪子穿过待测材料产生的散射角,并统计标准化散射角分布得到离散型分布;将离散型分布与标定后的缪子散射角分布进行耦合;计算待测材料的辐射长度;根据辐射长度,对待测材料进行鉴别。本申请实施例的材料鉴别方法从统计角度引入了缪子的离散能量信息,得到标定后的近似连续能量的缪子散射角分布,提高了材料鉴别方法的精确度的同时,简化了鉴别方法。

    一种用于同步辐射X射线散射测试的超声悬浮样品台

    公开(公告)号:CN115616011A

    公开(公告)日:2023-01-17

    申请号:CN202211346061.4

    申请日:2022-10-31

    Abstract: 本发明涉及一种用于同步辐射X射线散射测试的超声悬浮样品台,包括沿X射线的入射方向在第一光轴上依次设置的实时检测对光装置和超声悬浮装置,超声悬浮装置设置为使样品悬浮在第一光轴上;实时检测对光装置包括在与第一光轴垂直的第二光轴上依次排布的CCD相机、电动变倍镜筒和平面反射镜,平面反射镜位于第一光轴和第二光轴的交点处;平面反射镜上设置有供X射线通过的通孔。本发明的用于同步辐射X射线散射测试的超声悬浮样品台,通过超声悬浮装置使样品在散射测试时能够悬浮,避免其他支撑材料对散射信号造成影响;通过实时检测对光装置使得测试时的光路与X射线同轴,消除视场差,同时可以实时确保X射线照射在样品的预设位置。

    X射线分析设备
    73.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110389143B

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN201910300453.9

    申请日:2019-04-15

    Abstract: 本公开涉及但不限于X射线分析设备。所述设备包括用于支撑样本的样本台、具有旋转轴的测角仪和布置成绕测角仪的旋转轴可旋转的X射线检测器,其中X射线检测器布置成接收来自样本的沿着X射线束路径引导的X射线。X射线分析设备还包括均具有第一和第二配置的第一、第二和第三准直器。准直器在其第一配置中布置在X射线束路径中。准直器在其第二配置中布置在X射线束路径之外。第一致动器装置配置成通过在与X射线束路径相交的横向方向移动第一和第二准直器来在第一和第二配置之间移动第一和第二准直器。第二致动器装置配置成使第三准直器在其第一和第二配置之间移动。控制器配置成控制第一致动器装置以使第一准直器在第一和第二配置之间移动。

    薄膜拉伸装置
    74.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115284590A

    公开(公告)日:2022-11-04

    申请号:CN202210914530.1

    申请日:2022-07-28

    Abstract: 本发明公开一种薄膜拉伸装置,其中,薄膜拉伸装置包括支撑模块、拉伸模块、加热模块和控制模块。支撑模块包括支撑组件及牵引组件,牵引组件设于支撑组件;拉伸模块包括拉伸组件及拉伸壳体;加热模块包括加热组件及加热壳体;拉伸模块与加热模块均可拆卸的设于支撑组件上侧;控制模块电连接牵引组件并控制其带动拉伸组件在拉伸壳体内及加热壳体内移动,控制模块还电连接加热组件并控制其加热壳体内腔。本发明技术方案涉及实验装置技术领域,通过控制组件使拉伸组件在机架内的常温腔结构及加热腔结构移动,既可以在常温腔结构进行薄膜的拉伸实验,也可以在加热腔结构内由加热组件加热到一定程度后再进行实验,灵活方便。

    溶液成膜干燥装置
    76.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114656662A

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN202210253874.2

    申请日:2022-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种溶液成膜干燥装置,包括:支撑主体;挥发控制室,设置于支撑主体中,处于成膜过程中的样品放置在挥发控制室中;通风装置,与挥发控制室连接,用于提供成膜过程所需的热风;光学性能检测装置,包括:光源单元,设置于挥发控制室的下方,用于产生朝向样品发射的测量光束;检测单元,在挥发控制室的上方,设置在支撑主体上,用于检测测量光束穿过样品之后的偏振特性,以确定样品的光学信息。通过设置光学性能检测装置,对溶液加工成型过程中成膜状态进行实时检测,从而获得溶剂干燥挥发形成薄膜的中间变化过程,进而对溶液加工成型条件进行优化,提高薄膜的质量。

    具有液膜喷射标靶的激光产生等离子体照明器

    公开(公告)号:CN114616459A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202080075892.5

    申请日:2020-10-27

    Abstract: 本文中呈现用于从采用液膜喷射标靶的激光产生等离子体(LPP)产生X射线照明的方法及系统。将经高度聚焦短持续时间激光脉冲引导到液膜喷射标靶。所述经聚焦激光脉冲与所述膜喷射标靶的相互作用点燃等离子体。在一些实施例中,液膜喷射由会聚毛细管喷嘴或会聚平面腔喷嘴产生。在一些实施例中,标靶材料包含具有相对低原子序数的一或多种元素。在一些实施例中,液膜喷射LPP光源产生用于测量半导体结构的结构特性及材料特性的在软X射线(SXR)光谱范围中的多谱线照明或宽带X射线照明。在一些实施例中,用如本文中所描述的液膜喷射LPP照明源来执行反射小角度X射线散射测量。

    小角X射线散射仪
    78.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113970566A

    公开(公告)日:2022-01-25

    申请号:CN202111417960.4

    申请日:2021-11-25

    Inventor: 武美玲

    Abstract: 本发明公开了小角X射线散射仪,包括底座,所述底座内部设置有控制器,所述底座上部设置有用于产生测试所需X射线的测试光源机构、用于放置和移动样品的样品放置机构和探测机构,所述测试光源机构、样品放置机构和探测机构从左到右依次设置,所述样品放置机构包括样品舱、设置在样品舱内部的可在竖直平面二维运动的样品架机构以及设置在样品架机构上的样品放置台,所述控制器用于控制测试光源机构、样品放置机构和探测机构工作。本发明当探测器靠近样品时,可以获得样品的小角散射信号;当探测器远离样品时,可以获得样品的广角衍射信号;可以实现小角与广角数据的采集,应用范围更加广泛。

    二维小角X射线散射图谱计算方法和装置

    公开(公告)号:CN112579969A

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN202011524314.3

    申请日:2020-12-21

    Applicant: 深圳大学

    Abstract: 本申请公开了一种二维小角X射线散射2DSAXS图谱计算方法及装置,该方法包括:获取第i个散射体的形状参数、尺寸参数和角度参数,i为大于或等于零的整数;根据第i个散射体的形状参数、尺寸参数和角度参数确定第i个散射体的目标三维矩阵Mi;对目标三维矩阵Mi进行投影,得到二维投影矩阵Ki;对二维投影矩阵Ki进行傅里叶运算,得到第i个散射体的2DSAXS图谱矩阵Li;根据2DSAXS图谱矩阵Li确定目标2DSAXS图谱。

Patent Agency Ranking