检测稀介质中的物质
    87.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102667445B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201080050338.8

    申请日:2010-11-12

    CPC classification number: G01N21/45

    Abstract: 本发明公开了用于检测稀介质中的物质的方法和设备(10),所述物质具有光谱特征,所述设备包括:光束源(20),其布置用于产生彼此相干并具有匹配的啁啾模式的第一激光束和第二激光束;光束引导器,其布置用于使至少所述第一激光束穿过所述稀介质;光束混合器,其布置用于将所述第一激光束和所述第二激光束混合以形成混合光束;检测器(80),其布置用于在所述啁啾模式期间检测所述混合光束,并测量由光谱特征上所述稀介质的折射率变化引起的所述混合光束的改变;输出器,其提供响应于测量到的改变而改变的信号。

    具有增强的光学信号的微流体传感器

    公开(公告)号:CN104823049A

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201380062419.3

    申请日:2013-10-01

    Inventor: S·Y·周 C·王 R·彭

    CPC classification number: G01N33/54386 G01N33/54366 G01N2610/00

    Abstract: 本公开提供,除其他事项之外,用于检测液体中的分析物的微流体装置,其包括:基片;在基片的表面上的流体通道;和位于该通道的某一位置的纳米传感器,该纳米传感器包括:纳米结构,该纳米结构包括至少一个纳米结构元件,每个元件包括至少两个由间隔分开的金属结构;和沉积在纳米结构的表面上的捕捉剂,其中该捕捉剂特异性结合分析物。当分析物结合于或接近捕捉剂时,纳米传感器放大照向和/或来自分析物的光信号、或照向和/或来自附接于分析物的光标记物的光信号。

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