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公开(公告)号：CN110954754B
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN201911214486.8
申请日：2019-12-02
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种同心锥TEM室场均匀性校准方法，包括：将场强探头放入同心锥TEM室场均匀区中心，记为初始位置；调节TEM室输入频率至下限试验频率，馈入能产生标准场强的恒定前向功率，记录所述初始位置的场强读数和前向功率；保持所述前向功率不变，围绕初始位置，沿不同方向确定第一位置、第二位置、第三位置和第四位置，四个位置形成的区域大小，能够将场强探头包围，且与初始位置场强相差绝对值均不大于设定范围；步进调节输入频率至试验频率上限，重复上述步骤，得到同心锥TEM室场均匀区。本申请填补了同心锥TEM室场均匀性校准方法空白，能够快速、准确地进行场均匀性校准。
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公开(公告)号：CN111856312A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202010835656.0
申请日：2020-08-19
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/40
Abstract: 本发明公开一种低频电源纹波干扰测试仪，包括壳体和集成式测试系统；集成式测试系统包括控制单元、信号发生单元、信号放大单元、信号耦合单元、信号采集单元和弱小信号提取单元，信号耦合单元的信号输入端分别与电源接口和信号放大单元相接，信号放大单元与信号产生单元连接，信号耦合单元的信号输出端分别与受试设备连接接口和弱小信号提取单元相接，弱小信号提取单元与信号采集单元相连，信号采集单元与控制单元相接。本发明集成了控制单元、信号发生单元、信号放大单元、信号耦合单元、信号采集单元、弱小信号提取单元以及输出/显示单元，可实现全自动化测试功能，控制模块可实现修正系数、限值曲线添加与调用，功率比较功能。
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公开(公告)号：CN109444615A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811594155.7
申请日：2018-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种电缆束传导干扰现场诊断及测试装置及方法，所述装置包括信号发生单元，用于形成干扰信号；信号放大单元，用于将所述干扰信号放大，并将放大后的干扰信号注入电子设备电缆中；频率采集单元，用于通过所述采集探头检测所述电子设备电缆在所述干扰信号注入时的检测信号；控制单元，用于根据所述频率采集单元采集的检测信号得到所述电子设备电缆的干扰检测结果，并将所述干扰检测结果传输至所述显示单元；显示单元，用于向用户显示所述控制单元传输的干扰检测结果，本发明可实现现场电磁兼容诊断测试的移动性和便携性。
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公开(公告)号：CN108896828A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201810728293.3
申请日：2018-07-05
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请实施例中提供了一种负载结构和同心锥形横电磁波室，其中,负载结构包括：两端开口的空心锥形体；所述空心锥形体的外表面涂覆有涂层材料；同心锥形TEM室中的外导体直接与所述涂层材料抵接；所述负载结构通过凸台结构将部分涂层材料以面接触的方式直接与同心锥形横电磁波室中内导体压接。本申请所述技术方案能够可有效地解决掉炭黑涂料以及负载与导体接触不可靠的问题，从而提高同心锥TEM室的可靠性和耐用性。本申请所述技术方案能够吸收内外导体上的传输电流及腔体内传输的电磁波，以减少电磁波反射，从而确保腔体的场均匀性满足指标要求。
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公开(公告)号：CN108828485A
公开(公告)日：2018-11-16
申请号：CN201810224296.3
申请日：2018-03-19
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本申请公开了一种场强探头支架装置，包括垂直关节、俯仰关节、旋转台和探头支杆；所述垂直关节包括第一垂直关节和第二垂直关节，所述第二垂直关节第一端可在所述第一垂直关节中伸缩；所述俯仰关节第二端与所述第二垂直关节第二端活动连接；所述旋转台用于控制所述探头支杆绕自身轴心旋转一周。还公开了一种场强探头全向性校准系统，包括TEM室、标准增益天线、天线支架和上述场强探头支架装置，所述天线支架用于调整所述标准增益天线垂直、水平和俯仰位置。本申请还公开了一种场强探头全向性校准方法。本申请采取手动调节和电控相结合的方式，能够准确定位全向性测试中的场强探头位置及自旋角度，装拆方便，同时有较好的经济性和便捷性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108020802A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201711148056.1
申请日：2017-11-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种电场探头校准方法和装置，解决现有方法和装置校准频率范围小、校准稳定性差、时间长、无法大批量校准的问题。所述方法，包括：在同心锥TEM室馈电处注入输入信号，产生校准电场；根据被校准场探头频率范围确定校准点；根据校准点频率，在校准电场的场均匀区域内放入标准场探头，得到标准场强；在相同位置放入被校准场探头，记录场强指示值；计算所述校准点的频率响应偏差和频率响应修正因子。所述装置包含：同心锥TEM室、信号源、功率计、定向耦合器、被校场探头，信号源产生校准点频率值的输入信号；定向耦合器接收输入信号并传给同心锥TEM室；同心锥TEM室产生校准电场。本发明实现了电场探头的大频率范围、快速校准问题。
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公开(公告)号：CN105569530A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510958502.X
申请日：2015-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
CPC classification number: E06B5/18 , E06B3/7007 , E06B3/72 , E06B7/28 , E06B7/30
Abstract: 本发明实施例提供一种同心锥形TEM室屏蔽门，屏蔽门盖安插在屏蔽门框中构成屏蔽门，该屏蔽门盖的屏蔽门芯的弧面与同心锥形TEM室所开窗口部分的腔体内壁弧面一致，使得本发明中的同心锥形TEM室屏蔽门在安装在同心锥形TEM室后，该屏蔽门不会在所述同心锥形TEM室内形成凸起或凹陷，降低了该屏蔽门对所述同心锥形TEM室内的电磁场产生的干扰。并且，由于该同心锥形TEM室屏蔽门中的屏蔽门芯，可以用于安装场强探头，所以可以进一步解决同心锥形TEM室腔内空间狭小，传统TEM室屏蔽门无法安装场强探头，浪费同心锥形TEM室内空间的问题。通过以上两点，本发明提供的同心锥形TEM室屏蔽门更加适用于同心锥形TEM室。
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公开(公告)号：CN104569931A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410797741.7
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/40
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种单站雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法，在暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定发射接收天线所在位置；以发射接收天线所在位置为圆心，分别以待测目标所在测试区离发射接收天线最近和最远的距离为半径，在暗室中构建两个圆球面；所述两个圆球面及两个圆球面之间的空间即为所述单站雷达目标特性测量同步散射点区域。该方法可快速找到暗室内与测试区任意位置待测目标信号同时到达发射接收天线的同步散射点区域，通过对这些区域统一添加高性能的吸波材料或想办法移走这些散射原，可以大幅度的降低这些部位的散射信号强度，减小这些部位散射对待测目标散射信号测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN104569889A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410821001.2
申请日：2014-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种同心锥形TEM室及其传输段内外导体半夹角的设计方法，该方法包括步骤：根据该同心锥形TEM室传输段的使用要求，选择其特性阻抗ZC以及外导体半夹角θ2与内导体半夹角θ1之比θ2/θ1；根据选定的同心锥形TEM室传输段特性阻抗ZC和外内半夹角之比θ2/θ1，计算不同的同心锥形TEM室传输段内外导体半夹角所对应的同心锥形TEM室传输段的高阶模数量，选取最少高阶模数量所对应的内外导体半夹角，作为该同心锥形TEM室传输段内外导体半夹角。本发明所述技术方案通过设计同心锥形TEM室传输段的内外导体半夹角，有效地减少了高阶模的数量且提高了高阶模截止频率，提高了同心锥形TEM室性能。
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公开(公告)号：CN103116081A
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201210593067.1
申请日：2012-12-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/02
Abstract: 本发明公开了一种脉冲电流的校准方法，该校准方法包括如下步骤：脉冲电流源(1)输出的脉冲电流经衰减器(2)、示波器(3)、地和匹配电阻(4)形成闭合的电流回路；通过衰减器(2)使示波器(3)的输入电压衰减；通过示波器(3)显示的波形与所述脉冲电流的对应关系获得所述脉冲电流的特征参数。通过调节衰减器(2)的衰减比能够调节示波器(3)显示的波形与所述脉冲电流的对应关系。所述校准方法能够校准脉冲电流源产生的脉冲电流，获得脉冲电流的脉冲幅度、脉冲上升时间、脉冲下降时间和脉冲宽度等特征参数。
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