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公开(公告)号：KR2019990009123U
公开(公告)日：1999-03-15
申请号：KR2019970022275
申请日：1997-08-16
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H05K1/16
Abstract: 가. 청구범위에 기재된 고안이 속한 기술분야.
본 고안은 기판 조립부품의 삽입공정의 스틱부품에 대한 생산성 및 품질향상에 관한 것으로, 자동삽입M/C공정(Surface Mounter Device 및 ROBOT, DIP등)의 스틱휘더(STICK FEEDER)부에 사용될 수 있는 것이다.
나. 고안이 해결하려고 하는 기술적 과제.
본 고안은 사용자가 스틱의 방향성을 제대로 인식하여 인쇄회로기판에 장착하기 위하여 좌우 단부의 형상이 상호 다르게 형성되는 구조를 갖는 오삽입 방지용 스틱을 제공하는데 있다.
다. 고안의 해결방법의 요지.
본 고안은 각종 인쇄회로기판상에 장착되기 위한 유극성 전자부품의 스틱포장물에 있어서, 상기 인쇄회로기판상에 올바른 방향으로 부품을 장착하기 위하여 상기 스틱의 일측단부에는 소정의 홈을 형성하여 타측 단부와 구별되도록 함을 특징으로 한다.
라. 고안의 중요한 용도.
본 고안은 인쇄회로기판에 장착되는 유극성 부품을 장착하기 위한 스틱구조.-
公开(公告)号：KR1019990013233A
公开(公告)日：1999-02-25
申请号：KR1019970053071
申请日：1997-10-16
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: D06F37/40
Abstract: 본 발명에 의한 세탁기의 동력절환장치는, 세탁축으로 전달되는 동력을 단절 및 연결시키도록 동력발생수단과 감속수단의 사이에 동력절환수단을 구비한 세탁기에 있어서, 상기 동력절환수단은 상기 상부컨넥터의 외주면에 수직으로 돌출 형성된 다수의 치형돌기에 내주면이 맞물려 상하로 이동 가능케 결합된 상부클러치와, 상기 상부클러치의 하측에 설치되어 그 중심의 외주면에 상기 다수개의 유성기어가 치형 맞춤되는 하부클러치와, 상기 상부클러치가 상하 이동되어 상기 하부클러치에 이탈 및 맞물리도록 상기 상부 및 하부클러치의 외측에 설치된 동력단속수단으로 이루어진 것을 특징으로 되어 있으므로, 감속수단의 외측으로 동력절환수단을 설치하여 세탁기 전체의 높이를 줄일 뿐만 아니라 동력절환수단의 구조를 단순화시켜 제품원가� �� 절감시키며, 클러치가이드의 상하작동에 따른 상부클러치를 밀어올리는 힘이 골고루 분포될 뿐만 아니라 클러치가이드가 거꾸로 조립되지 않게 한 것이다.
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公开(公告)号：KR2019990002528U
公开(公告)日：1999-01-25
申请号：KR2019970016102
申请日：1997-06-27
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H05K3/34
Abstract: 본 고안은 납조 내에 수납되어 있는 납의 양을 감지하기 위한 납량 감지장치에 관한 것이다. 본 고안에 따른 납량 감지장치는 상단부가 전극을 감싸며 하단부가 납조 내의 납에 잠겨 있는 파이프부재를 구비하여 그 파이프부재에 의해 납조 내의 납 표면이 파이프부재 외부의 납표면과 파이프부재 내부의 납표면으로 구획되도록 되어 있으므로, 파이프부재 외부의 납 표면에 떠있는 불순물은 전극의 수직하방으로 이동될 수 없으므로, 납조 내의 납량이 정확하게 감지될 수 있다.
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公开(公告)号：KR100164819B1
公开(公告)日：1999-01-15
申请号：KR1019950013268
申请日：1995-05-25
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 박철우
IPC: G06F12/02
Abstract: 1. 청구범위에 기재된 발명이 속하는 기술 분야 :
본 발명은 그래픽용 메모리 제품에 갖추어진 특수한 기능인 블록라이트 제어방법에 관한 것이다.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제 :
종래에는 입출력라인을 공유하는 회로구성인 경우 블록라이트동작에사용되는 시간에 의해 라이트사이클의 시간폭이 결정되었다. 이에 따라 노멀라이트동작시 상대적으로 필요없이 늘여진 사이클의 시간폭에 의한 시간손실이 컸다. 한편 이러한 시간손실을 줄이기 위해 입출력라인들을 독립적으로 사용하는 회로구성을 사용하는 경우 반도체 메모리장치의 고집적에 불리하게 되었다. 본 발명에서는 입출력 라인들을 공유하면서도 고집적에 유리한 반도체 메모리장치를 구현하고자 하였다.
3. 발명의 해결 방법의 요지 :
상기 과제를 해결켤하기 위하여 컬럼선택게이트들로 입력되는 컬럼선 택신호들의 시간폭을 노멀라이트동작과 블록라이트동작을 다르게하였다.
4. 발명의 중요한 용도 :
이에 따라 노멀 라이트동작시 고대역폭을 확보하여 고속동작에 유리하고 더불어 동일입출력라인으로 블록라이트동작을 수행할 수 있게되어 고집적에 유리한 반도체 메모리장치가 구현된다.-
公开(公告)号：KR100147632B1
公开(公告)日：1998-11-02
申请号：KR1019950009638
申请日：1995-04-24
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G11C29/00
CPC classification number: G11C29/38
Abstract: 본 발명은 반도체 메모리창치의 멀티 비트 테스트방법 및 테스트방법에 관한 것으로서, 테스트 모드 인에이블신호를 입력하기 위한 제1입력단자; 제1입력단자에 인가되는 테스트 모드 인에이블신호를 입력하여 내부 테스트 모드 인에이블신호를 발생하는 제1입력회로부; 테스트 모드 선택신호를 입력하기 위한 제2입력단자; 제1입력발생부의 내부 테스트 모드 인에이블신호에 응답하여 상기 제2입력단자에 인가되는 테스트 모드 선택신호를 입력하여 내부 테스트 모두 선택신호를 발생하는 제2입력회로부; 제2입력회로부에서 출력되는 내부 테스트 모드 선택신호에 응답하여 복수의 테이타 비트값이 모두 같은지 다른지를 비교하는 비트비교부; 멀티 비트 테스트 모드에서 리드 데이타 전송신호에 응답하여 상기 비트비교부의 출력을 래치하는 래치부; 내부 테스트 모드 선택신호 및 래치부의 출력에 응답하여 데이타 버스를 데이타 입출력라인에 접속하기 위한 버스제어부를 구비한 것을특징으로 한다.
따라서, 본 발명에서는 멀티 비트 테스트시에 통합된 비트들 중 특정의 비트를 테스트할 수 있다.-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR2019980008213U
公开(公告)日：1998-04-30
申请号：KR2019960022579
申请日：1996-07-29
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 박철우
IPC: D06F37/40
Abstract: 본고안은직결세탁기의구동장치용동력전달수단의클러치어퍼에관한것으로, 클러치어퍼(244)의 4각돌기(244c)에형성된ㄷ자형상의홈(244g)에완충부재(244h)가결합되어클러치로어(242)의홈부 (242c)에끼워져결합되어, 클러치어퍼(244)와클러치로어(242)의결합이용이하여세탁코스와탈수코스의절환이용이함은물론, 클러치어퍼(244)와클러치로어(242)의결합시소음도크게줄일수 있도록된 것이다.
Abstract translation: 总和内部文件涉及到离合器上的动力传递单元的直接洗衣机的驱动装置中，暂时4的形成于离合器上244离合器低级特征每个突起（244C）U缓冲在凹槽（244克）构件（244H） 242沟槽（242C）是非洲红铁wojyeo耦合，离合器上244和下离合器242分辨率必须通过切换容易利用这一点，以及在洗涤过程中的上离合器244和脱水过程和离合器的低级（ 242），以减少显著噪声水平Habsi的决定。
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公开(公告)号：KR1019970053239A
公开(公告)日：1997-07-31
申请号：KR1019950053698
申请日：1995-12-21
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
Abstract: 본 발명은 복수의 프로파일 열전대를 해체하지 않고 동시에 특성검사할 수 있고 정확한 교정데이타를 얻을 수 있는 열전대 교정용 시스템에 관한 것이다.
본 발명에 따른 열전대용 교정용 시스템은, 기준 열전대를 이용하여 복수의 열전대가 하나로 세팅된 반도체 설비용 프로파일 열전대(Profile Thermocouple)의 특성을 검사하여 교정시키는 열전대 교정용 시스템에서; 상기 프로파일 열전대의 세팅된 수와 동일한 수의 기준열전대의 각단부와 상기 프로파일 열전대의 복수의 각 단부를 각각 한 쌍으로 서로 다른 위치의 존(Zone)에서 동시에 특성검사를 수행할 수 있도록 전기로가 구성됨을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 열전대 교정에 소요되는 시간 및 인력의 낭비를 방지할 수 있고 작업성이 극대화되며, 정확한 교정데이타를 얻을 수 있는 이점이 있어서 열전대가 구성되는 설비를 공정수행을 위한 최적 상태로 설정할 수 있는 효과가 있다.-
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公开(公告)号：KR1019970029883A
公开(公告)日：1997-06-26
申请号：KR1019950041674
申请日：1995-11-16
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G11C29/00
Abstract: 1. 청구범위에 기재된 발명이 속하는 기술 분야; 본 발명은 반도체 메모리 장치의 테스트 회로 및 테스트 방법에 관한 것이다.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제; 본 발명은 저대역폭을 가진 테스트 장비로 고대역폭을 메모리의 테스트를 가능하게 하여 결정적으로 테스트 비용을 줄여줌으로써 생산성을 향상시켜주는 테스트 회로 및 테스트 방법을 제공한다
3. 발명의 해결방법의 요지; 본 발명은 칩 외부에서 입력되는 일정 주파수의 클럭에 동기되어 동작하는 메모리에 있어서, 입력 클럭의 n배의 주파수를 가지는 내부 클럭을 발생시켜서 저주파수의 테스트 장비로 칩의 고주파수 클럭으로 테스트 할 수 있도록 하는 주파수 체배회로를 포함하는 테스트 회로를 포함한다.
4. 발명의 중요한 용도; 본 발명은 반도체 메모리 장치의 테스트에 적합하게 사용된다.
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