81.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:FR2870933B1

    公开(公告)日:2008-03-14

    申请号:FR0405815

    申请日:2004-05-28

    Applicant: ESSILOR INT

    Inventor: HADDADI AHMED

    Abstract: A contour reading method for an item such as an eyewire for spectacles, the method using an appliance including a support for holding the item, and a rotary platform which is rotatably mounted in relation to the support about a rotational axis and carries a reading sub-set provided with a sensor consisting of a finger and a rod, the finger having a distal end. The distal end is displaced along the contour and successive positions thereof are detected. The method is characterized in that the displacement step includes a measuring step wherein the effort exerted between the platform and the rod is measured parallel to the rod, and a control step wherein the distance between the finger and the platform is controlled according to the effort in such a way that the intensity of the effort remains lower than a pre-determined threshold.

    PROCEDE ET DISPOSITIF DE PREPARATION DE LNTILLES DE LUNETTES EN VUE DE LEUR MONTAGE SUR LA MONTURE CHOISIE PAR LE PORTEUR.

    公开(公告)号:FR2905478A1

    公开(公告)日:2008-03-07

    申请号:FR0607574

    申请日:2006-08-29

    Applicant: ESSILOR INT

    Inventor: HADDADI AHMED

    Abstract: L'invention concerne un procédé et un dispositif de préparation d'une lentille (100, 101) de lunettes en vue de son montage sur la monture choisie par le porteur, compte-tenu de paramètres de montage mémorisés, liés à la morphologie du porteur et à la géométrie de la monture, comportant les étapes suivantes :- une étape de centrage au cours de laquelle on acquiert le référentiel optique de la lentille (100, 101) et on fixe sur celle-ci un accessoire de blocage (200, 201, 203, 204),- une étape de détourage de la lentille (100, 101) suivant un contour souhaité.L'accessoire de blocage (200, 201, 203, 204) étant équipé d'un élément électronique d'identification (220) portant un code d'identification, on lit ce code d'identification de l'élément électronique (220), d'abord selon une première lecture lors de l'étape de centrage pour l'associer en mémoire aux paramètres de montage de la lentille (100, 101) recevant l'accessoire de blocage (200, 201, 203, 204), puis selon une seconde lecture lors de l'étape de détourage pour récupérer les paramètres de montage associés au code d'identification lu et donc à la lentille (100, 101) attachée à l'accessoire de blocage (200, 201,203,204).

    METHODE D'ETALONNAGE D'UNE MEULEUSE ET DISPOSITIF CORRESPONDANT

    公开(公告)号:FR2893523A1

    公开(公告)日:2007-05-25

    申请号:FR0511746

    申请日:2005-11-21

    Applicant: ESSILOR INT

    Inventor: HADDADI AHMED

    Abstract: La présente invention concerne une méthode d'étalonnage d'un dispositif de biseautage de lentilles ophtalmiques comprenant un outil d'usinage pourvu d'une gorge de biseautage.Selon l'invention, la méthode comprend les étapes de :- positionner, dans un plan de mesure comprenant l'axe de blocage des arbres de blocage de la lentille ophtalmique et l'axe de rotation de l'outil d'usinage, l'axe de blocage à une distance de restitution connue d'un premier segment de jauge moyen défini comme étant le segment parallèle à l'axe de rotation de l'outil d'usinage dont les extrémités sont deux points qui appartiennent chacun à une face latérale de la gorge de biseautage et qui sont séparés d'une distance correspondant à une première largeur caractéristique d'appui donnée,- mesurer dans cette configuration une première position étalon de l'axe de blocage relativement à l'axe de rotation de l'outil d'usinage, et- en déduire la constante d'étalonnage.

    85.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE69501178T2

    公开(公告)日:1998-05-28

    申请号:DE69501178

    申请日:1995-04-28

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: Measurements are made on the distance (15) between upper and lower horizontal tangents (17,16) to the left- and right-hand spectacle frames (2,3), the overall width (14) of each frame, the interpupillary spacing (7) and its division (8, 9) by the axis of the nose (6), the distance (12) between the frames, and the heights (18, 19) of the pupils of both eyes (4, 5) above the lower tangent (16). The centre of each pupil is located automatically by analysis of the luminance gradient, and the tangents are determined from luminance gradient analysis and frame contour extn..

    86.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE69000704D1

    公开(公告)日:1993-02-11

    申请号:DE69000704

    申请日:1990-10-05

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: The contour reading apparatus consists firstly of a supporting table (14) equipped with means for holding (16) capable of supporting the article whose contour is to be read, and secondly of a feeler (18) which is equipped with a rotatably mounted contact head (19) so that it can be applied against this article and which is conveyed on a carriage (20) itself mounted so that it can move relative to the supporting table (14). … The contact head (19) of the feeler (18) is rotated by being locked to a rotating drive, which is in practice the output shaft of a geared motor (26). … Application especially to the reading of the contour of circles or inner perimeters of a spectacle frame. … …

    DISPOSITIF DE MESURE DE PARAMETRES OCULAIRES, NOTAMMENT ECART PUPILLAIRE, AVEC DES RETICULES ELECTRO-OPTIQUES A COMMANDE NUMERIQUE

    公开(公告)号:CA1218842A

    公开(公告)日:1987-03-10

    申请号:CA443941

    申请日:1983-12-21

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: : Le dispositif est classique dans sa structure optique, avec une façade, une lentille convergente, un oeilleton de visée au foyer de la lentille, et une source lumineuse dont l'image dans la lame semi-réfléchissante apparaît comme un point à l'infini. Des matrices à cristaux liquides sont disposées dans les fenêtres et pilotées par une unité logique couplée à un clavier de commande et un afficheur. L'opérateur, visant par l'oeilleton, manoeuvre le clavier de sorte que l'unité logique délivre des signaux d'adresse, soit à des colonnes des matrices, soit à des lignes des matrices. Suivant le mode, des traits verticaux apparaissent dans les fenêtres pour mesurer l'écart interpupillaire, ou des traits horizontaux apparaissent dans les quatre matrices pour déterminer le centrage des verres dans leur monture.

    88.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:FR2538239A1

    公开(公告)日:1984-06-29

    申请号:FR8221537

    申请日:1982-12-22

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: A device (1) for measuring the ocular parameters of a subject is of conventional optical design, with a front panel (10), a convergent lens (11), an aiming hole (12) at the focus of the lens (11), and a light source (13) whose image in a semi-reflecting mirror (14) appears as a point at infinity. Liquid crystal matrixes are disposed in windows (15, 16, 17, 18) and controlled by a logic unit (20) connected to a control keyboard (21) and a display (22). Looking through the hole (12), the operator uses the keyboard (21) to send address signals from the logic unit (20) either to the columns of the top matrixes (15, 16) or to the lines of the top and bottom matrixes (15, 16, 17, 18). According to the operating modes selected, vertical lines appear in the top windows (15, 16) to measure the interpupillary distance or horizontal lines appear in all four windows for centering the lenses in the frame.

    PROCEDE D'EVALUATION D'UN INDICE D'EXPOSITION D'UN ŒIL AU RAYONNEMENT ULTRAVIOLET ET SYSTEME ASSOCIE

    公开(公告)号:FR3033892B1

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:FR1552346

    申请日:2015-03-20

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: L'invention concerne un procédé d'évaluation d'un indice d'exposition au rayonnement ultraviolet (UV) d'un œil (OD ; OG) d'un porteur (P) équipé de lunettes comprenant au moins un verre (V), comprenant les étapes suivantes : - détermination de la surface (S) d'une partie de face arrière (AR) dudit verre (V) directement exposée à un rayonnement extérieur lorsque ledit porteur (P) porte lesdites lunettes ; - détermination d'une valeur représentative de l'exposition au rayonnement ultraviolet d'au moins un environnement fréquenté par le porteur (P); - détermination de l'indice d'exposition en fonction de la surface déterminée (S) et de la valeur déterminée. Un système associé est également décrit.

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