公开(公告)号：EP0616200A1

公开(公告)日：1994-09-21

申请号：EP94104223.6

申请日：1994-03-17

Applicant: HITACHI, LTD.

Inventor： Sohma, Kenichi ,  Itoh, Kazuyuki ,  Kuroda, Michio ,  Murakami, Tadayoshi

IPC: G01J3/36 ,  F23M11/04 ,  F23N5/08

CPC classification number: F23M11/045 ,  F23N5/082 ,  F23N2029/20 ,  G01J3/2823 ,  G01J2001/448 ,  G01J2003/2826

Abstract: A spectrum analysis camera (300) which can, by itself, deliver both an ordinary color picture and a picture for spectrum analysis and a spectrum analysis system. In the CCD (charge-coupled device) section of the camera (300); one photosensitive unit is constituted by n (at least two) photosensors (S₁-S₉). The n photosensors (S₁-S₉) are set so as to have detection wavelength ranges which do not overlap each other. The spectrum analysis is performed using the output signals of the individual photosensors (S₁-S₉) in Fig. 3(b). On the other hand, the color picture is formed using R (red); G (green) and B (blue) signals which are created by synthesizing the output signals of the respective photosensors (S₁-S₉).

Abstract translation: 频谱分析照相机（300），其可以通过本身，提供这两种普通的彩色图像以及用于频谱分析的图片，并在CCD的频谱分析系统（电荷耦合器件）摄像机（300）的部分。 一个光敏单元由n个（至少两个）的光传感器（S1-S9）构成。 n个光传感器（S1-S9）被设置成具有不彼此重叠的检测波长范围。 频谱分析使用图1中的各个光传感器（S1-S9）的输出信号进行的。图3（b）。 在另一方面，彩色图像是使用R（红）形成的; G（绿）和由合成的respectivement光传感器（S1-S9）的输出信号在B（蓝色）信号。

公开(公告)号：EP0362562B1

公开(公告)日：1993-12-15

申请号：EP89116342.0

申请日：1989-09-05

Applicant: Fried. Krupp AG Hoesch-Krupp

Inventor： Carlhoff, Christoph, Dr. Dipl.-Phys. ,  Lorenzen, Claus-Jürgen, Dr. Dipl.-Phys. ,  Nick, Klaus-Peter, Dr. Dipl.-Phys.

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/20 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/20 ,  G01J3/2803 ,  G01J2001/446 ,  G01J2001/448 ,  G01J2003/045 ,  G01J2003/1295

公开(公告)号：EP0519930A1

公开(公告)日：1992-12-30

申请号：EP91903163

申请日：1991-01-14

Applicant: UNIV SALFORD

Inventor： MORGAN CHRISTOPHER GRANT HAREW

IPC: G01J1/44 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6408 ,  G01J2001/442 ,  G01J2001/448 ,  G01J2001/4493

Abstract: Appareil destiné à produire des informations pondérées sur le temps d'évanouissement (par ex. une image pondérée sur le temps d'évanouissement) d'un échantillon luminescent comprenant une source d'excitation lumineuse disposée de manière à illuminer l'échantillon, un dispositif permettant de moduler ou de pulser l'intensité de l'excitation lumineuse de manière cyclique prédéterminée, un dispositif de détection des photons émis par l'échantillon en résultat de sa luminescence, un dispositif de stockage des données représentatives des photons détectés, les données stockées étant pondérées en tant que fonction de la différence de phase entre la détection des photons et la modulation à variation cyclique, et un dispositif permettant de produire des informations pondérées sur le temps d'évanouissement à partir des données stockées.

公开(公告)号：EP0388082A3

公开(公告)日：1991-11-06

申请号：EP90302486.7

申请日：1990-03-08

Applicant: SHIELDS INSTRUMENTS LIMITED

Inventor： Shields, Jack

IPC: G01N21/35 ,  G01N33/10

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0229 ,  G01J2001/448 ,  G01J2003/1247 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01N21/85 ,  G01N2021/3133 ,  G01N2021/3148 ,  G01N2021/3174 ,  G01N2021/8592

Abstract: Apparatus for quantitative analysis of a material sample, such as whole grain, as a function of optical characteristics thereof includes a light source and a solid state detector of silicon or other suitable construction. A material sample is positioned between the light source and the detector, and light energy is focused through the sample onto the detector at a plurality of preselected wavelengths in the near-infrared range of 800-1100 nm. Illumination wavelength is selectively controlled by an opaque disc having a central axis and a plurality of apertures around the periphery at uniform radius from the disc axis. A plurality of filter elements are carried by the disc over respective ones of the peripheral apertures and have transmission characteristics corresponding to the plurality of preselected wavelengths. The filter elements are carried in a continuous circumferential array around the disc periphery, with the array including at least one opaque section for chopping light energy incident on the detector. The disc is rotated about its axis in a continuous motion so that each filter element in turn intersects light energy transmitted through the sample. Analysis electronics is responsive to light energy incident on the detector at the plurality of preselected wavelengths to indicate a preselected characteristic of the material sample.

公开(公告)号：EP0350595A2

公开(公告)日：1990-01-17

申请号：EP89108803.1

申请日：1989-05-17

Applicant: Oerlikon-Contraves AG

Inventor： Pedrazza, Donatus

IPC: G01J1/42 ,  G01J11/00 ,  G01S7/48

CPC classification number: G01J11/00 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/448 ,  G01S7/497

Abstract: Die wesentlichen Schritte des erfindungsgemässen Verfahrens zur Messung und Auswertung von Lichtfleck-Intensitätsprofi­len, hier sind es Laserintensitätsprofile, sind folgende: Aus dem Strahlengang des kurzzeitigen optischen Ereignisses wird ein Teil der Energie ausgekoppelt und deren Energiedichte in zwei Raumrichtungen (vorzugsweise orthogonal zum Photonen­einfall) digitalisiert bzw. quantisiert. Das zur Lichtintensität proportionale Signal jedes Digits bzw. Quants wird gespeichert. Gleichzeitig ist auch die Gesamtenergie über dem gespeicherten Lichtfleck ermittelt worden. In einem nachfolgenenden Ver­fahrensschritt, wird aus diesen Informationen die Lichtvert­eilung auf einer Fläche gegenüber einer zu dieser Fläche nicht parallelen Achse abgebildet. Dieses eine Vorgehen liefert das gesuchte Intensitätsprofil, also die Energieverteilung über die Messfläche die bei dem kurzzeitigen optischen Ereignis einge­fallen ist.

Abstract translation: 本发明的用于测量和评估光斑强度分布的方法的基本步骤，这些是激光强度分布，如下：一部分能量从短路的光束路径耦合出来， 并且其能量密度在两个空间方向（优选地与光子入射正交）上被数字化或量化。 存储与每个数字或量子的光强成比例的信号。 同时，总能量也通过存储的光点来确定。 在与之相反的表面上的与平行于所述表面的表面相反的表面上的光分布在后续处理步骤中从所述信息成像。 所述一个程序提供期望的强度分布，也就是说，在短期光学事件期间入射的测量表面上的能量分布。

公开(公告)号：EP0184911A2

公开(公告)日：1986-06-18

申请号：EP85308332.7

申请日：1985-11-15

Applicant: Warner-Lambert Technologies, Inc.

Inventor： Michalik, John K.

IPC: G01N21/59 ,  G01N21/49 ,  G01N21/41 ,  G01N21/43 ,  G06F15/20

CPC classification number: G01N21/43 ,  G01J2001/448 ,  G01N2021/414 ,  G01N2201/126

Abstract: An automatic refractometer comprising a photosensitive device having a relatively narrow dynamic range in the form of a linear scanned array including a plurality of photoelectric elements each providing an output pulse during a scan and the amplitude of each pulse being determined by the amount of illumination of the corresponding element by incident light, an optical system for directing light onto the array in a manner such that the particular photoelectric elements of the array which are illuminated by the light are determined by the index of refraction of a light transmitting substance placed in operative association with the optical system, a circuit for converting signals from the array into digital signals containing information as to the amplitudes of the signals from the array, a digital processing circuit for storing respective signals from reference and sample substances placed in operative association with the optical system and for computing the index of refraction of the sample substance by means of a comparison of the stored reference and sample information, and apparatus for providing a read out of the computed result. The digital processing circuit also calculates the percent solids in the sample substance, and the circuit also includes a plurality of channels for containing information to provide different interpretations of the index of refraction computed thereby. The circuit for converting array signals into digital signals comprises a peak detector circuit for detecting peak amplitudes of signals obtained from scanning the array and an analog-to-digital converter for providing digital signals containing information as to peak amplitudes of the array signals. There is also provided arrangements for measuring the temperatures of the sample substance and comparing to a reference for applying a temperature correction to the computed index of refraction, monitoring and regulating the temperature of the component of the optical system to which the sample substance is exposed, and monitoring and regulating the intensity of light incident on the array.

公开(公告)号：TW201443407A

公开(公告)日：2014-11-16

申请号：TW103106658

申请日：2014-02-27

Applicant: 大塚電子股份有限公司 ,  OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.

Inventor： 白岩久志 ,  SHIRAIWA, HISASHI

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/0264 ,  G01J1/44 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01J2001/4406 ,  G01J2001/444 ,  G01J2001/448

Abstract: 本發明揭露一種分光光度計，包括一光檢測單元、一電路單元、一飽和判斷單元以及一測定結果運算單元；其中光檢測單元將所接受之光轉換為電子信號並予以輸出；電路單元包括複數個增益放大器與複數個類比數位轉換器(Analog-to-Digital Converters,ADC)，增益放大器將來自於光檢測單元所輸出之信號予以放大為複數個光增益，且類比數位轉換器將光增益轉換為數位信號，並予以輸出為複數個光量資料；飽和判斷單元判斷來自於電路單元之各光量資料是否飽和；測定結果運算單元係根據飽和判斷單元之判斷結果，使用光量資料中的一部分或全部的光量資料，計算所接受之光的測定結果。

Abstract in simplified Chinese: 本发明揭露一种分光光度计，包括一光检测单元、一电路单元、一饱和判断单元以及一测定结果运算单元；其中光检测单元将所接受之光转换为电子信号并予以输出；电路单元包括复数个增益放大器与复数个模拟数码转换器(Analog-to-Digital Converters,ADC)，增益放大器将来自于光检测单元所输出之信号予以放大为复数个光增益，且模拟数码转换器将光增益转换为数码信号，并予以输出为复数个光量数据；饱和判断单元判断来自于电路单元之各光量数据是否饱和；测定结果运算单元系根据饱和判断单元之判断结果，使用光量数据中的一部分或全部的光量数据，计算所接受之光的测定结果。

公开(公告)号：JP2018125347A

公开(公告)日：2018-08-09

申请号：JP2017014552

申请日：2017-01-30

Applicant: キヤノン株式会社

Inventor： 豊口 銀二郎

IPC: H04N5/369 ,  H04N5/374 ,  H01L27/146

CPC classification number: H01L27/1461 ,  B60W30/09 ,  B60W50/14 ,  B60W2050/143 ,  B60W2420/42 ,  B60W2510/20 ,  B60W2520/10 ,  B60W2520/14 ,  B60W2710/0677 ,  B60W2710/18 ,  G01C3/085 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/448 ,  H01L31/00 ,  H04N5/3559

Abstract: 【課題】光電変換部の高い感度と大きな飽和電荷量とを両立しつつ信号電荷の転送性能を向上しうる固体撮像装置を提供する。 【解決手段】光電変換により電荷を生成する光電変換部と、光電変換部から転送される電荷を保持する電荷保持部と、をそれぞれが含む複数の画素を有する固体撮像装置であって、光電変換部は、半導体基板の表面部に設けられた第1導電型の第1の半導体領域と、第1の半導体領域の下部に設けられ、生成した電荷を蓄積する第2導電型の第2の半導体領域と、第2の半導体領域の下部に設けられた第1導電型の第3の半導体領域と、第1の半導体領域と第2の半導体領域との間の一部に設けられた第1導電型の第4の半導体領域と、を有し、第2の半導体領域は、平面視において第3の半導体領域と重ならない第1の領域を有し、第4の半導体領域は、平面視において、第1の領域の少なくとも一部と重なっている。 【選択図】図3

公开(公告)号：JP6221341B2

公开(公告)日：2017-11-01

申请号：JP2013104000

申请日：2013-05-16

Applicant: ソニー株式会社

Inventor： 中村 良助 ,  古閑 史彦 ,  渡部 泰一郎

IPC: H04N5/374 ,  H01L27/146

CPC classification number: H01L27/14614 ,  G01J1/44 ,  H01L27/14605 ,  H01L27/1461 ,  H01L27/14612 ,  H01L27/14621 ,  H01L27/14627 ,  H01L27/14636 ,  H01L27/14638 ,  H01L27/1464 ,  H01L27/14641 ,  H01L27/14643 ,  H01L27/14645 ,  H01L27/14647 ,  H01L27/14689 ,  G01J2001/448

公开(公告)号：JP2017520764A

公开(公告)日：2017-07-27

申请号：JP2016571691

申请日：2015-06-09

Applicant: エスティーシー. ユーエヌエムStc.Unm ,  エスティーシー. ユーエヌエムStc.Unm

Inventor： アール ジェイ ブリュック スティーブン ,  アール ジェイ ブリュック スティーブン ,  ノイマン アレクサンダー ,  ノイマン アレクサンダー ,  ザーケシュ ハ ペイマン ,  ザーケシュ ハ ペイマン

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/00 ,  G02B6/124 ,  H01L31/10

CPC classification number: G01J1/06 ,  G01J1/44 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/18 ,  G01J3/1895 ,  G01J3/2803 ,  G01J2001/448 ,  G02B6/10 ,  G02B6/12004 ,  G02B6/122 ,  G02B6/124 ,  H01L27/1446 ,  H01L31/02019 ,  H01L31/02164 ,  H01L31/02327 ,  H01L31/103

Abstract: 2Dセンサ・アレイは、半導体基板と、半導体基板に配設された複数の画素とを含む。各画素は、結合領域および接合領域と、半導体基板に配設され、結合領域から領域まで延びるスラブ導波路構造とを含む。スラブ導波路は、第1のクラッド層と第2のクラッド層との間に配設された閉込め層を含む。第1のクラッドおよび第2のクラッドは各々閉込め層の屈折率よりも低い屈折率を有する。各画素は、結合領域におよびスラブ導波路内に配設された結合構造をさらに含む。結合構造には、異なる屈折率を有し、グレーティング周期によって規定されたグレーティングとして配列された2つの材料が含まれる。接合領域には、バイアス印加と、入射放射の吸収に由来するキャリアの収集とのための電気接触部と通信するpn接合が含まれる。