-
公开(公告)号：US20150002845A1
公开(公告)日：2015-01-01
申请号：US13927683
申请日：2013-06-26
Applicant: General Electric Company
Inventor： Victor Petrovich Ostroverkhov , Dmitry Vladimirovich Dylov , Siavash Yazdanfar , Stephen B. Solomon
CPC classification number: A61B10/02 , G01B11/002 , G01J3/00 , G01N21/31 , G01N21/65 , G01N2021/6417
Abstract: A spectroscopy system for auto-aligning a biopsy collecting device is presented. The spectroscopy system includes an illumination subsystem configured to emit an illumination light towards the biopsy collecting device, whereas the biopsy collecting device includes an activator unit and a needle unit and wherein the needle unit includes a cannula and a stylet having a biopsy specimen. Also, the spectroscopy system includes a fixation subsystem capable of holding the biopsy collecting device and configured to place the needle unit comprising the biopsy specimen across the illumination light. Further, the spectroscopy system includes a detection subsystem configured to receive a light comprising at least one of an attenuated illumination light and a re-emitted light from the needle unit. In addition, the detection subsystem is configured to send a control signal to align the needle unit at a predetermined position in the spectroscopy system based on the received light.
Abstract translation: 提出了一种用于自动对准活检收集装置的光谱系统。 光谱系统包括被配置为朝向活检收集装置发射照明光的照明子系统，而活检收集装置包括激活器单元和针单元，并且其中针单元包括插管和具有活检样本的探针。 此外，光谱系统包括固定子系统，其能够保持活检收集装置并且构造成将包括活检标本的针单元放置在照明光上。 此外，光谱系统包括被配置为接收包括衰减照明光和来自针单元的再发射光中的至少一种的光的检测子系统。 此外，检测子系统被配置为发送控制信号，以根据所接收的光将针单元对准在光谱系统中的预定位置。
-
公开(公告)号：US08914242B2
公开(公告)日：2014-12-16
申请号：US13136079
申请日：2011-07-21
Applicant: Tom Lee Erb
Inventor： Tom Lee Erb
CPC classification number: G01R23/16 , G01J3/00 , G01N22/04 , G01N23/02 , G01R27/2623 , G06F17/40 , G06F19/00 , G06F2219/00
Abstract: The present invention includes a guided microwave spectroscopy system (1) that eliminates the need for an automatic gain control feature by providing multiple signal processing paths having differing fixed voltage gains. An emitted signal which exits a test chamber (2) containing a material under test is simultaneously amplified by at least a first fixed gain amplifier (4) and a second fixed gain amplifier (7). The output signal of each amplifier is separately digitized and then normalized for further digital signal processing by a computer (13) in order to determine parameters of the material under test which may have variable microwave radiation characteristics that are a function of the frequency of the signal emitted into the test chamber. During the signal processing step a system clock (121) causes the computer to sample only an integral number of complete output signal cycles. A calibration protocol (136-154) is conducted based on laboratory samples of each potential material to be processed by the system (1).
Abstract translation: 本发明包括一种通过提供具有不同固定电压增益的多个信号处理路径来消除对自动增益控制特征的需要的导向微波光谱系统（1）。 离开包含待测材料的测试室（2）的发射信号由至少第一固定增益放大器（4）和第二固定增益放大器（7）同时放大。 每个放大器的输出信号被分开地数字化，然后被归一化用于由计算机（13）进一步的数字信号处理，以便确定待测材料的参数，其可以具有作为信号频率的函数的可变微波辐射特性 发射到测试室。 在信号处理步骤期间，系统时钟（121）使得计算机只对整数个完整的输出信号周期进行采样。 基于由系统（1）处理的每个潜在材料的实验室样品，进行校准协议（136-154）。
-
公开(公告)号：US20130194571A1
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：US13363490
申请日：2012-02-01
Applicant: Scott Thomas Sanders
Inventor： Scott Thomas Sanders
CPC classification number: G02B6/00 , G01J3/00 , G01J3/0218 , G01J3/42 , G01N21/31 , G01N21/8507 , G01N2021/8528 , G01N2021/8578 , G01N2201/084 , G02B6/262
Abstract: A remote sensor element for spectrographic measurements employs a monolithic assembly of one or two fiber optics to two optical elements separated by a supporting structure to allow the flow of gases or particulates therebetween. In a preferred embodiment, the sensor element components are fused ceramic to resist high temperatures and failure from large temperature changes.
Abstract translation: 用于光谱测量的远程传感器元件使用一个或两个光纤的单片组件到由支撑结构隔开的两个光学元件，以允许其间的气体或微粒的流动。 在优选实施例中，传感器元件部件是熔融陶瓷以抵抗高温度和从较大温度变化引起的故障。
-
公开(公告)号：US20130176553A1
公开(公告)日：2013-07-11
申请号：US13682010
申请日：2012-11-20
Applicant: PIONEER HI-BRED INTERNATIONAL, INC.
Inventor： Jason Cope , David Kurth
IPC: G01J3/00 , G01N1/04 , G01B11/00 , G01N23/04 , G01N21/31 , G01R33/44 , G01N3/40 , B01L3/00 , G01J3/46
CPC classification number: A01C1/025 , B01L3/50 , G01B11/00 , G01J3/00 , G01J3/46 , G01N1/04 , G01N3/40 , G01N21/314 , G01N21/33 , G01N21/3563 , G01N21/359 , G01N23/04 , G01N33/0098 , G01N35/0099 , G01R33/44
Abstract: The present invention provides a method and apparatus for non-destructive testing of a seed. In various embodiments, the method may comprise vibrating the seed to orient the seed on an axis, identifying a location of a known feature of the seed, determining a sample location on the seed based on the location of the known feature, and performing a non-destructive testing procedure on the seed proximate the sample location. In one embodiment, the method may comprise removing a sample portion of the seed from the sample location without damaging the embryo of the seed. Accordingly, the viability of the seed may be maintained while allowing for subsequent testing on the sample portion of the seed.
Abstract translation: 本发明提供一种用于种子无损检测的方法和装置。 在各种实施例中，该方法可以包括振动种子以在轴上定向种子，识别种子的已知特征的位置，基于已知特征的位置确定种子上的样本位置，以及执行非 在样品位置附近的种子上的破坏性测试程序。 在一个实施方案中，该方法可以包括从样品位置移除种子的样品部分而不损害种子的胚胎。 因此，可以保持种子的存活力，同时允许对种子的样品部分的后续测试。
-
公开(公告)号：US20120154803A1
公开(公告)日：2012-06-21
申请号：US13316767
申请日：2011-12-12
Applicant: Yuya MIYAZONO
Inventor： Yuya MIYAZONO
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/00 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/28 , G01J3/2803
Abstract: A spectroscopic detector includes a spectroscopic element for dispersing light, a photodetector for detecting the light dispersed by the spectroscopic element and a condensing optical system for condensing the dispersed light to the photodetector and compensating for a deviation in a detected wavelength deriving from nonlinearity of the angle of emergence generated in the spectroscopic element through chromatic aberration of magnification.
Abstract translation: 分光检测器包括用于分散光的分光元件，用于检测由分光元件分散的光的光电检测器和用于将分散的光聚集到光电检测器的聚光系统，并补偿由角度的非线性引起的检测波长的偏差 通过色像差产生在分光元件中的出现。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：US07327896B1
公开(公告)日：2008-02-05
申请号：US10940638
申请日：2004-09-15
Applicant: Narsingh B. Singh , Tracy-Ann Waite , David Kahler , Andre Berghmans
Inventor： Narsingh B. Singh , Tracy-Ann Waite , David Kahler , Andre Berghmans
IPC: G06K9/40
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/00 , G01J3/1256 , G01J2003/1286 , G01N2021/1793
Abstract: A hyperspectral imaging system is tested in the lab to allow a determination of its response to the emission from a simulated target, of certain wavelengths of radiation which the imaging system will be using during target determination. A broadband IR wavelength generator is used to generate a multiplicity of wavelengths representing the target and an emissions simulator is used to generate wavelengths representing target emission of hot gases. An AOTF is used to delete one or more target wavelengths, and to add one or more emission wavelengths, from and to the transmission path to the imaging system.
Abstract translation: 在实验室中测试高光谱成像系统，以便确定其对来自模拟目标的辐射的响应，该目标是在目标确定期间成像系统将使用的某些波长的辐射。 使用宽带IR波长发生器来产生表示目标的多个波长，并且使用发射模拟器来产生表示热气体的目标发射的波长。 AOTF用于从成像系统中删除一个或多个目标波长，并向传输路径添加一个或多个发射波长。
-
公开(公告)号：JP2017523422A
公开(公告)日：2017-08-17
申请号：JP2017505128
申请日：2014-08-01
Applicant: ニューポート コーポレイション , ニューポート コーポレイション
Inventor： チェン，アンダーソン , パク，ジョン
IPC: G01N21/27
CPC classification number: G01N21/55 , G01J3/00 , G01J3/02 , G01N21/474 , G01N21/59 , G01N21/64 , G01N2021/556 , G01N2201/0691 , H02S50/10
Abstract: 試料の光学特性を測定するシステムが開示されている。このシステムは、試料の特性の測定に関連する信号をサンプリングして、この信号のソフトウエアベースの可干渉性検出を行い、ほぼ同時に取得した信号に基づく結果測定値を生成するように構成されている。これによって、所望の測定値のリアルタイムでの表示または生成が容易になる。一の構成例では、このシステムは、選択した波長の変調光信号を試料に入射させるように構成されている。別の構成例では、このシステムは、異なる波長の複数の光信号から取り出し、異なる周波数で変調した複合光信号を、試料に入射させるように構成されている。さらに別の構成例では、このシステムは、異なる周波数で変調した複数の光信号を試料の異なる領域に入射させるように構成されている。【選択図】図1A
-
-
公开(公告)号：JP2014501937A
公开(公告)日：2014-01-23
申请号：JP2013536565
申请日：2011-10-25
Applicant: ナショナル ユニヴァーシティー オブ シンガポール
Inventor： サッシャ・ピエール・ヒュースラー , ヘルバート・オー・モーザー
IPC: G03F7/20 , H01L21/027
CPC classification number: G02B5/18 , G01J3/00 , G03F7/0002 , G03F7/0005 , G03F7/0017 , G03F7/0037 , G03F7/2014 , G03F7/203 , G03F7/213 , G03F7/70058 , G03F7/70416 , G03F7/70466
Abstract: リソグラフィ法及び装置が本明細書に開示される。 記載された実施形態において、本方法は、（ｉ）３次元構造を形成するための露出パターン３３２、３３４を有する第１のマスク３１６を提供する段階、（ｉｉ）第１のマスク３１６を放射線に露出して放射線感受性レジスト３１４に露出パターン３３２、３３４を形成する段階であって、露出パターン３３２、３３４はレジスト３１４の照射領域３３６及び非照射領域３３７によって画定される、露出パターン３３２、３３４を形成する段階、（ｉｉ）第２のマスク３２８を提供する段階、及び（ｉｉｉ）露出時に、第１のマスク３１６と第２のマスク３２８との間の相対位置を変化させて（矢印Ｂ及びＣ）照射領域３３６の選択された部分を放射線から遮蔽し、３次元構造内に異なる深さプロファイルを形成することを可能にする段階、を含む。
Abstract translation: 本文公开了一种光刻方法和装置。 在所描述的实施例中，该方法包括（i）提供具有用于形成三维结构的曝光图案的第一掩模; （ii）将第一掩模暴露于辐射以在辐射敏感抗蚀剂上形成曝光图案; 由抗蚀剂的照射区域和未照射区域限定的曝光图案; （ii）提供第二掩模; 和（iii）在曝光期间，改变第一掩模和第二掩模之间的相对位置以屏蔽被照射区域的所选部分不受辐射，以使能够在三维结构中产生变化的深度分布。
-
90.发明专利
公开(公告)号：JP4789415B2
公开(公告)日：2011-10-12
申请号：JP2003580901
申请日：2003-03-26
Inventor： カッツ・ウラジミール , ミッチェル・ベラ
IPC: H01L21/304 , B24B37/013 , B24B49/12 , G01B11/06 , G01J3/00 , G01N21/27 , H01L21/66
CPC classification number: B24B49/12 , B24B37/013 , G01B11/0625 , G01B11/0683 , G01J3/00
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
334
records
(took 0.023 seconds)
