半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN100487913C

    公开(公告)日:2009-05-13

    申请号:CN200510064742.1

    申请日:2005-04-18

    Abstract: 本发明在n-半导体层(22)的表面层上,选择性地形成了深度各为14-20μm(设计值)的p+-扩散区(23、24、25)。由于用He离子对芯片整个表面进行照射,因此寿命抑制因子被从比形成于n-半导体层(22)和p+扩散区域(23)的p-n结表面(31)的位置(d1)浅的位置(d2)引入到位置比p-n结表面(31)的位置(d1)深的位置(d3),以便形成整个芯片上的短寿命区域(32)。在He离子照射时,进行照射以使所述He离子照射半宽度不大于p+扩散区(23)的深度,并且具有He离子峰值的位置比所述He离子照射半宽度还深,且位于p+扩散区域(23)深度的80%和120%间的区域内。这样,在例如转换器二极管的半导体器件中,可带来使反向恢复电流(di/dt)具有高衰减率的能力足以高到这样一种程度,所述器件能承受雷电冲击并使低正向电压(VF)一直维持低电平。

    垂直磁记录介质及其制造方法

    公开(公告)号:CN101266802A

    公开(公告)日:2008-09-17

    申请号:CN200710169925.9

    申请日:2007-11-08

    Abstract: 本发明提供能稳定并高性能地制作用于低Ku层的软磁性体并能实现磁化的热稳定性、磁头写入的容易性和提高SNR的垂直磁记录介质及其制造方法。该垂直磁记录介质在非磁性基体上至少依次地形成有非磁性基底层、磁记录层和保护层,磁记录层包括垂直磁各向异性常数(Ku值)相对小的低Ku层和Ku值相对大的高Ku层,低Ku层是由在将Co、Ni、Fe中的任意一种金属或它们的合金作为主体的强磁性体中,添加了氮元素的铁族元素基微晶结构构成的软磁性薄膜,并且由具有面心立方晶格或六方密堆积的结晶结构的薄膜构成,令与该膜面平行的优先结晶取向面,在面心立方晶格结构的情况下为(111)面,在六方密堆积结构的情况下为(002)面。

    超小型功率变换装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100397763C

    公开(公告)日:2008-06-25

    申请号:CN200410001017.5

    申请日:2004-01-16

    Abstract: 本发明提供具有安装面积小、功率变换效率上升、可谋求功耗降低的薄型化电感器的超薄型化的超小型功率变换装置,其中:线圈导体(4,5)的平面形状是直线状,磁性绝缘基板(1)的第一主面上形成线圈导体(4),第二主面上形成线圈导体(5),各导体(4、5)通过在贯通孔上形成的连接导体(3)电连接且螺线管状地形成。在该薄型化电感器上取磁性绝缘基板的垂直于X-X线的方向的长度为L,取作为对向的连接导体(3)间的距离的线圈导体长度为d时,使d≥L/2的关系成立地决定d,可提高薄型化的电感器的电感值,也可实现直流叠加特性的改善,其结果,通过用该电感器,可以制作超薄型化的超小型功率变换装置。

    过电流检测电路与基准电压生成电路

    公开(公告)号:CN1936758A

    公开(公告)日:2007-03-28

    申请号:CN200610139280.X

    申请日:2006-09-20

    Inventor: 山田耕平

    CPC classification number: G05F1/573

    Abstract: 本发明提供一种过电流检测电路,其特征在于:作为MOSFET的M1是流过基准电流时得到与该基准电流对应的基准电压的基准负载。通过M11、M12、M13和M14,构成放大两个输入电位差的差动放大部。在该差动放大部中流过恒定电流源Ib的偏压电流。该偏压电流中的至少一部分电流流过基准负载M1。此时,M10的漏极电位输入到该差动放大部的两个输入电极中的一个,在该差动放大部的两个输入电极的另一个中,输入与作为过电流检测对象的电流大小相对应的检测电压。由此,能够降低电子线路全体的总消耗电流。

    压力检测设备
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1854701A

    公开(公告)日:2006-11-01

    申请号:CN200610051540.8

    申请日:2006-02-28

    CPC classification number: G01L19/143 G01L19/0084 G01L19/146 G01L19/147

    Abstract: 根据本发明的压力检测装置100,包括:压力检测设备110,将由施加其上的压力所导致的张力转换为电信号,并输出转换后的电信号;容纳基底120,包括将所述压力检测设备110容纳其中的容纳凹槽121;以及介于压力检测设备110和所述容纳凹槽121之间的连接材料129,所述连接材料以400%或更高的百分比抗张伸展率连接压力检测设备110和容纳凹槽121。根据本发明的压力检测装置易于防止热应力对其检测性能造成不利影响,并且获得优良的热响应。

    半导体设备和使用该设备的温度检测方法

    公开(公告)号:CN1851249A

    公开(公告)日:2006-10-25

    申请号:CN200610051539.5

    申请日:2006-02-28

    Abstract: 根据本发明的半导体装置10包括用半导体衬底中形成的半导体设备来执行温度检测的温度检测部分12;在半导体衬底上形成的、用于将检测信号从温度检测部分12输出到外部的温度传感器输出端T3;连接到输出端T3的电流生成部件21,该电流生成部件21将驱动电流施加给温度检测部分12;以及连接到输出端22的电压测量装置22,当预定值的驱动电流从电流生成部件21提供给温度检测部分12时,该电压测量装置22测量输出端T3的电压以执行温度检测。根据本发明的半导体装置具有有助于减少其尺寸的结构。根据本发明的半导体装置有助于在低生产成本下实现其简易生产。根据本发明的温度检测方法有助于使得所述半导体装置非常精确地运行。

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