公开(公告)号：TW200420873A

公开(公告)日：2004-10-16

申请号：TW092108512

申请日：2003-04-14

Applicant: 林仁輝 LIN, JEN FIN

Inventor： 林仁輝 LIN, JEN FIN ,  陳冠維 CHEN, KUAN WEI ,  張憲彰 CHANG, HSIEN CHANG

IPC: G01Q ,  G01N

Abstract: 本發明係有關於一種工件材料表面形貌處理方法，係垂直於掃描式探針顯微鏡的掃描方向上取其形貌數據的梯度，利用所得到的梯度來自動判斷數據及雜訊是否合理，且依預先輸入之參考值作為判斷的門檻，於數據的線上處理及後處理上對雜訊值自動進行整修處理，以期得到較為合理的數據，避免不合理的數據影響解讀或使形貌失真，能節省大量人力與時間且得到真正精確的形貌。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系有关于一种工件材料表面形貌处理方法，系垂直于扫描式探针显微镜的扫描方向上取其形貌数据的梯度，利用所得到的梯度来自动判断数据及噪声是否合理，且依预先输入之参考值作为判断的门槛，于数据的在线处理及后处理上对噪声值自动进行整修处理，以期得到较为合理的数据，避免不合理的数据影响解读或使形貌失真，能节省大量人力与时间且得到真正精确的形貌。

公开(公告)号：TWI247885B

公开(公告)日：2006-01-21

申请号：TW092108512

申请日：2003-04-14

Applicant: 林仁輝 LIN, JEN FIN

Inventor： 林仁輝 LIN, JEN FIN ,  陳冠維 CHEN, KUAN WEI ,  張憲彰 CHANG, HSIEN CHANG

IPC: G01Q ,  G01N

Abstract: 本發明係有關於一種工件材料表面形貌處理方法，係垂直於掃描式探針顯微鏡的掃描方向上取其形貌數據的梯度，利用所得到的梯度來自動判斷數據及雜訊是否合理，且依預先輸入之參考值作為判斷的門檻，於數據的線上處理及後處理上對雜訊值自動進行整修處理，以期得到較為合理的數據，避免不合理的數據影響解讀或使形貌失真，能節省大量人力與時間且得到真正精確的形貌。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系有关于一种工件材料表面形貌处理方法，系垂直于扫描式探针显微镜的扫描方向上取其形貌数据的梯度，利用所得到的梯度来自动判断数据及噪声是否合理，且依预先输入之参考值作为判断的门槛，于数据的在线处理及后处理上对噪声值自动进行整修处理，以期得到较为合理的数据，避免不合理的数据影响解读或使形貌失真，能节省大量人力与时间且得到真正精确的形貌。

公开(公告)号：TWI221164B

公开(公告)日：2004-09-21

申请号：TW089110766

申请日：2000-06-02

Applicant: 林清彬 ,  林仁輝 LIN, JEN FIN ,  許錫綱 ,  顧軍夫

Inventor： 林清彬 ,  林仁輝 LIN, JEN FIN

IPC: C25D

Abstract: 一種石墨顆粒鍍銅之方法係包括下列諸步驟者：1. 將石墨顆粒洗淨、烘乾；2. 製備一鍍液含有硫酸銅水溶液並加入冰醋酸以為
潤溼劑者；與淨化之石墨顆粒攪拌使硫酸銅水溶
液潤溼於石墨顆粒表面上者；3. 令潤溼有硫酸銅水溶液之石墨顆粒滴落至一旋轉
之鋅盤上而與之接觸，由是進行置換(displacement)
反應，使硫酸銅中之銅為鋅所置換、析出而鍍覆
於石墨顆粒上；4. 以水洗滌、脫水、烘乾所得之鍍銅石墨顆粒。
本發明猶提供一系統裝置以進行上述之石墨鍍銅製程者。

Abstract in simplified Chinese: 一种石墨颗粒镀铜之方法系包括下列诸步骤者：1. 将石墨颗粒洗净、烘干；2. 制备一镀液含有硫酸铜水溶液并加入冰醋酸以为 润湿剂者；与净化之石墨颗粒搅拌使硫酸铜水溶 液润湿于石墨颗粒表面上者；3. 令润湿有硫酸铜水溶液之石墨颗粒滴落至一旋转 之锌盘上而与之接触，由是进行置换(displacement) 反应，使硫酸铜中之铜为锌所置换、析出而镀覆 于石墨颗粒上；4. 以水洗涤、脱水、烘干所得之镀铜石墨颗粒。 本发明犹提供一系统设备以进行上述之石墨镀铜制程者。

公开(公告)号：TWI299444B

公开(公告)日：2008-08-01

申请号：TW095118051

申请日：2006-05-22

Applicant: 林仁輝 LIN, JEN FIN

Inventor： 林仁輝 LIN, JEN FIN ,  陳冠維 CHEN, KUAN WEI

IPC: G05G ,  C23F

Abstract: 本發明係有關於一種可程式化表面處理系統,其
主要係以中央處理單元分別利用控制器及訊號接收
器,搭配上紫外線發射器、電漿產生器、電磁線圈、
偏壓產生器、加熱平台、冷卻水循環系統、氣體產生
設備與抽氣設備等模組化的裝置,達到單一機台可進
行清洗、鍍膜、離子植入與反應式離子蝕刻等多種表
面處理,再配合上網路路由器則可以進行遠端監控以
達到全自動化生產,使其應用範圍更為廣泛,不僅可
有效提升生產效率,且亦能降低設備成本,而在其整
體施行使用上更增實用價値性者。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系有关于一种可进程化表面处理系统,其 主要系以中央处理单元分别利用控制器及信号接收 器,搭配上紫外线发射器、等离子产生器、电磁线圈、 偏压产生器、加热平台、冷却水循环系统、气体产生 设备与抽气设备等模块化的设备,达到单一机台可进 行清洗、镀膜、离子植入与反应式离子蚀刻等多种表 面处理,再配合上网络路由器则可以进行远程监控以 达到全自动化生产,使其应用范围更为广泛,不仅可 有效提升生产效率,且亦能降低设备成本,而在其整 体施行使用上更增实用价値性者。

公开(公告)号：TW200743928A

公开(公告)日：2007-12-01

申请号：TW095118051

申请日：2006-05-22

Applicant: 林仁輝 LIN, JEN FIN

Inventor： 林仁輝 LIN, JEN FIN ,  陳冠維 CHEN, KUAN WEI

IPC: G05G ,  C23F

Abstract: 本發明係有關於一種可程式化表面處理系統,其主要係以中央處理單元分別利用控制器及訊號接收器,搭配上紫外線發射器、電漿產生器、電磁線圈、偏壓產生器、加熱平台、冷卻水循環系統、氣體產生設備與抽氣設備等模組化的裝置,達到單一機台可進行清洗、鍍膜、離子植入與反應式離子蝕刻等多種表面處理,再配合上網路路由器則可以進行遠端監控以達到全自動化生產,使其應用範圍更為廣泛,不僅可有效提升生產效率,且亦能降低設備成本,而在其整體施行使用上更增實用價値性者。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系有关于一种可进程化表面处理系统,其主要系以中央处理单元分别利用控制器及信号接收器,搭配上紫外线发射器、等离子产生器、电磁线圈、偏压产生器、加热平台、冷却水循环系统、气体产生设备与抽气设备等模块化的设备,达到单一机台可进行清洗、镀膜、离子植入与反应式离子蚀刻等多种表面处理,再配合上网络路由器则可以进行远程监控以达到全自动化生产,使其应用范围更为广泛,不仅可有效提升生产效率,且亦能降低设备成本,而在其整体施行使用上更增实用价値性者。

公开(公告)号：TW200607650A

公开(公告)日：2006-03-01

申请号：TW093125075

申请日：2004-08-20

Applicant: 林仁輝 LIN, JEN FIN

Inventor： 林仁輝 LIN, JEN FIN ,  陳冠維 CHEN, KUAN WEI

IPC: B41F ,  B41M

Abstract: 本發明係有關於一種奈米印模的壓印方法，其主要係於印模上塗覆有一層脫膜劑，且將該印模置入容器內，再注入液相待壓印物，利用超音波震動及施加按壓壓力令液相待壓印物皆能順利流入印模上之各凹部內，再將待壓印物固著於基層上，待固化後即可順利脫膜完成具有大深寬比之壓印痕跡；藉此，而成為一種既簡便又快速之奈米印模的壓印方法者。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系有关于一种奈米印模的压印方法，其主要系于印模上涂覆有一层脱膜剂，且将该印模置入容器内，再注入液相待压印物，利用超音波震动及施加按压压力令液相待压印物皆能顺利流入印模上之各凹部内，再将待压印物固着于基层上，待固化后即可顺利脱膜完成具有大深宽比之压印痕迹；借此，而成为一种既简便又快速之奈米印模的压印方法者。

公开(公告)号：TW200420874A

公开(公告)日：2004-10-16

申请号：TW092108513

申请日：2003-04-14

Applicant: 林仁輝 LIN, JEN FIN

Inventor： 林仁輝 LIN, JEN FIN ,  陳冠維 CHEN, KUAN WEI ,  張憲彰 CHANG, HSIEN CHANG

IPC: G01Q ,  H01J ,  G01N

Abstract: 本發明係有關於一種改善對材料表面作定性分析之方法，係利用摩擦力顯微鏡(FrictionForceMicroscopy，FFM)是藉著讀取探針的側向力，來判斷探針與表面間摩擦力的大小，然後由摩擦力的分佈來判斷表面材料分部、微結構等等各種資訊；本方法在於解決當摩擦力顯微鏡用來對表面材料做定性分析時會受到表面形貌的影響，去除形貌的摩擦力變化，藉此突顯出材料對於摩擦力的效應，在我們做表面材料的定性分析上有正面的幫助。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系有关于一种改善对材料表面作定性分析之方法，系利用摩擦力显微镜(FrictionForceMicroscopy，FFM)是借着读取探针的侧向力，来判断探针与表面间摩擦力的大小，然后由摩擦力的分布来判断表面材料分部、微结构等等各种信息；本方法在于解决当摩擦力显微镜用来对表面材料做定性分析时会受到表面形貌的影响，去除形貌的摩擦力变化，借此突显出材料对于摩擦力的效应，在我们做表面材料的定性分析上有正面的帮助。