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公开(公告)号:TW201827149A
公开(公告)日:2018-08-01
申请号:TW106140637
申请日:2017-11-23
Inventor: 拉塔克 巴普蒂斯特 , LATOUCHE, BAPTISTE , 吉洛特 伊斯梅爾 , GUILLOTTE, ISMAEL , 馬瑞撒 安東尼 , MARISSAEL, ANTONIN , 內文 瓦爾德 , NEVEN, WARD , 達馬斯 簡-米歇爾 , DAMASSE, JEAN-MICHEL
Abstract: 一種使用雷射除垢對具有氧化物層的移動金屬產品進行除垢的方法,其特徵在於:至少一個第一雷射器(6)發射在待除垢產品的氧化表面上反射的光線(7),所述反射光線(9)被感測器(8)截取,所述感測器(8)將所收集的資訊發送到處理單元(10);處理單元(10)計算所述產品的表面對所述光線(7)的吸收,推導出氧化表面在所述反射光線(9)的方向上的發射率,並且將該發射率與處理單元(10)內部預先記錄的參考資訊相關聯;至少一個第二雷射器(13)發射光線(14)到所述產品的表面上以對所述產品進行除垢,所述光線(14)的光點通過使用在所述產品的表面上橫向移動所述光線(14)的光點的光學和/或機械掃描或者將所述光點轉換成線的光學系統來覆蓋待進行除垢的整個表面,所述第二雷射器為接收由所述處理單元(10)提供的資訊的控制單元(15)所控制,從而能夠確定待施加到所述第二雷射器(13)上的操作參數以與所述控制單元(15)中預先記錄的實驗結果比較來獲得對所述產品的表面的除垢;以及,用於檢查所述產品的除垢表面的機構驗證所述除垢的效果。執行該方法的裝置。
Abstract in simplified Chinese: 一种使用激光除垢对具有氧化物层的移动金属产品进行除垢的方法,其特征在于:至少一个第一激光器(6)发射在待除垢产品的氧化表面上反射的光线(7),所述反射光线(9)被传感器(8)截取,所述传感器(8)将所收集的信息发送到处理单元(10);处理单元(10)计算所述产品的表面对所述光线(7)的吸收,推导出氧化表面在所述反射光线(9)的方向上的发射率,并且将该发射率与处理单元(10)内部预先记录的参考信息相关联;至少一个第二激光器(13)发射光线(14)到所述产品的表面上以对所述产品进行除垢,所述光线(14)的光点通过使用在所述产品的表面上横向移动所述光线(14)的光点的光学和/或机械扫描或者将所述光点转换成线的光学系统来覆盖待进行除垢的整个表面,所述第二激光器为接收由所述处理单元(10)提供的信息的控制单元(15)所控制,从而能够确定待施加到所述第二激光器(13)上的操作参数以与所述控制单元(15)中预先记录的实验结果比较来获得对所述产品的表面的除垢;以及,用于检查所述产品的除垢表面的机构验证所述除垢的效果。运行该方法的设备。