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公开(公告)号:WO2013151191A1
公开(公告)日:2013-10-10
申请号:PCT/KR2012/002437
申请日:2012-04-02
CPC classification number: G01N21/88 , G01N2021/9513 , G06T7/001 , G06T2207/30121
Abstract: 본 발명에 따른 평판패널 기판의 자동광학검사 방법은, 상기 기판의 일부 영역을 촬영하고, 각각이 촬영한 영상 내에 주기적으로 반복하여 존재하는 셀 레이아웃 패턴인 단위 영상들에 기초하여 기준 영상을 생성하는 단계, 각 단위 영상들을 상기 기준 영상과 비교하여 결함의 존부를 판정하고 기판에 결함이 존재할 경우 결함의 위치 정보를 획득하는 단계 및 획득한 결함의 위치정보를 출력하는 단계를 포함한다.
Abstract translation: 根据本发明,一种用于平板基板的自动光学检测的方法包括以下步骤:对基板的一部分进行成像并基于单位图像生成参考图像,每个图像周期性地是单元布局图案, 重复存在于拍摄图像中; 将每个单位图像与参考图像进行比较以确定缺陷的存在,并且如果在基板上存在缺陷,则获取关于缺陷位置的信息; 并输出所获取的关于缺陷位置的信息。
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公开(公告)号:WO2013039340A2
公开(公告)日:2013-03-21
申请号:PCT/KR2012/007352
申请日:2012-09-13
IPC: G01N21/956 , G01B11/30 , G02F1/13
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/95 , G01N2021/9513 , G02F1/1309 , G06T2207/30121 , H04N7/18
Abstract: 평판 패널을 검사하는 방법을 개시한다. 평판 패널 검사방법은, 평판 패널과 카메라 중 적어도 어느 하나를 수평 이동시켜 카메라를 평판 패널의 측정 위치에 배치하는 단계; 측정 위치에서 평판 패널의 피측정물에 대해 카메라의 초점을 자동으로 맞추는 단계; 카메라의 초점이 맞춰진 상태에서 카메라를 현재 위치를 중심으로 설정 구간 내에서 상하 이동시켜가며 피측정물에 대해 다수의 영상을 획득하는 단계; 및 획득된 다수의 영상 중 피측정물에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택한 후, 선택된 영상을 처리하여 피측정물의 불량 여부를 판별하는 단계를 포함한다.
Abstract translation: 公开了一种用于检查平板的方法。 用于检查平板的方法包括以下步骤:通过水平移动平板和相机中的至少一个来将相机布置在平板的测量位置; 在测量位置相对于平板测量对象自动聚焦相机; 在对照相机进行聚焦时,基于相机的当前位置垂直移动设定区域内的相机,来获取测量对象的多个图像; 在所获取的图像中选择具有用于测量目标的最高定义的图像; 处理所选图像; 并且确定测量目标是否有缺陷。
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公开(公告)号:WO2012044061A2
公开(公告)日:2012-04-05
申请号:PCT/KR2011/007141
申请日:2011-09-28
Abstract: 본 발명은 이미지 센서에서 출력되는 영상 데이터를 전송 채널의 대역폭에 상응하는 속도로 하나 이상의 전송 채널을 통해 순차적으로 전송하는 단계와, 하나 이상의 전송 채널을 통해 수신되는 영상 데이터를 하나 이상의 전송 채널 각각의 대역폭을 합한 전체 대역폭에 해당하는 속도로 프레임 스토어에 순차적으로 기록하는 단계를 포함하는 영상 데이터 고속 송수신 방법과 이를 구현하기 위한 장치이다.
Abstract translation: 本发明提供一种用于传输图像数据的方法,所述方法包括:以与传输信道的带宽相对应的速度,通过一个或多个传输信道顺序地传输从图像传感器输出的图像数据; 并且以与一个或多个传输信道中的每个传输信道的带宽的总带宽相对应的速度将数据顺序地记录到帧存储器,以及用于实现该装置的设备。
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公开(公告)号:WO2010134669A1
公开(公告)日:2010-11-25
申请号:PCT/KR2009/005165
申请日:2009-09-11
Applicant: 주식회사 인텍플러스 , 임쌍근 , 이상윤 , 유준호 , 장석준
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/24
Abstract: 본 발명은 최고점과 최저점 단차를 가지는 측정 대상물에 대한 최저점 반사거리와 동일한 기준면 반사거리 및 최저점 반사거리와 동일한 기준면 반사거리를 조절할 수 있도록 빔분할기 이동수단을 빔분할기에 설치하여 빔분할기의 위치를 조절함에 의해 반사거리가 조절될 수 있게 함으로써, 전체적인 구조를 단순화시킬 수 있게 한 입체 형상 측정장치에 관한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及一种3D形状测量装置,其中分束器移动装置安装在分束器上以调节从参考表面反射的光的距离,其与从最低点相反的光的距离相同 具有与从最低点反射的光的距离相同的从基准面反射的光的最高点与最低点之间的差的测量对象。 可以通过调整分束器的位置来调节反射光的距离,从而简化了整体结构。
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