Abstract:
본 발명은 유기실란계 중합체의 말단에, 하기 화학식 1로 표시되는 화합물로부터 유도된 치환기를 포함하는 미세 갭필용 중합체 및 이를 포함하는 미세 갭필용 조성물을 제공한다. [화학식 1] HOOC-(CH 2 ) l -R 1 2 Si-O-SiR 1 ' 2 -(CH 2 ) l -COOH 상기 화학식 1에서 R 1 , R 1 ', 및 l의 정의는 명세서에 기재한 바와 같다. 이로써, 본 발명은 상기 우수한 갭필 특성 및 보관안정성을 가지는 미세 갭필용 조성물을 이용한 반도체 집적회로 디바이스의 제조방법 및 그로부터 제조된 반도체 집적회로 디바이스를 제공할 수 있다.
Abstract:
화학식 1로 표시되는 구조단위 40 내지 80 몰%를 포함하는 유기실란계 축중합물 및 용매를 포함하는 레지스트 하층막용 조성물이 제공된다. 이로써, 본 발명은 저장안정성 및 내에칭성이 우수한 레지스트 하층막을 제공하여 우수한 패턴을 전사할 수 있는 레지스트 하층막용 조성물 및 이를 이용한 반도체 집적회로 디바이스의 제조방법을 제공할 수 있다.
Abstract:
본 발명의 일 구현예에 따른 포토레지스트 하층막용 조성물은(A) 하기 화학식 1로 표시되는 폴리실록산 수지, 및 (B) 용매를 포함한다. [화학식 1] {(SiO 1 .5 -Y-SiO 1 .5 ) x (SiO 2 ) y (XSiO 1 .5 ) z }(OH) e (OR 1 ) f 따라서, 우수한 보관 안정성 및 내에치성(etch resistance)을 가질 수 있고, 표면 물성의 조절이 용이할 수 있으며, 포토레지스트 패턴의 안정적인 형성을 가능하게 한다.
Abstract:
본 발명에서는 명세서에 기재된 화학식 1로 표시되는 구조단위 10 내지 40 몰%를 포함하는 유기실란계 축중합물 및 용매를 포함하는 레지스트 하층막용 조성물이 제공된다. 이로써, 본 발명은 저장안정성 및 내에칭성이 우수한 레지스트 하층막을 제공하여 우수한 패턴을 전사할 수 있는 레지스트 하층막용 조성물 및 이를 이용한 반도체 집적회로 디바이스의 제조방법을 제공할 수 있다.