公开(公告)号：KR102246867B1

公开(公告)日：2021-04-30

申请号：KR1020190057824

申请日：2019-05-17

Applicant: (재)한국나노기술원 ,  한세프리시젼(주)

Inventor： 박경호 ,  정해용 ,  이동협 ,  임일수 ,  최밝음

IPC: G01B7/012 ,  G01B11/24 ,  G01B7/28 ,  G01B7/34 ,  G01B11/06 ,  G01B11/30

Abstract: 본발명은, 접촉식선형센서의측정단자를측정대상물의측정대상영역에접촉시키는접촉식치수측정모듈; 측정대상물과측정단자의접촉상태를촬영한측정이미지를획득하고측정대상물에서측정대상영역의주변을촬영하는비접촉식치수측정모듈; 및접촉식치수측정모듈의전기신호로부터실제치수측정값과비접촉식치수측정모듈의측정이미지로부터예비치수측정값을구한후 비교해서, 예비치수측정값과실제치수측정값이서로다른때, 측정이미지를축적(scaling)시킨후 측정축적이미지를바탕으로측정대상영역의주변을이미지치수측정을수행하거나, 예비치수측정값과실제치수측정값이동일한때, 측정추가이미지를바탕으로측정대상영역의주변을이미지치수측정을수행하는제어부를포함한다.

公开(公告)号：KR20200132388A

公开(公告)日：2020-11-25

申请号：KR20190057824

申请日：2019-05-17

Applicant: (재)한국나노기술원 ,  한세프리시젼(주)

Inventor： PARK KYUNGHO ,  JEONG HAE YONG ,  LEE DONG HYUP ,  IM IL SOO ,  CHOE BAL GEUM

IPC: G01B7/012 ,  G01B7/28 ,  G01B7/34 ,  G01B11/06 ,  G01B11/24 ,  G01B11/30

Abstract: 본발명은, 접촉식선형센서의측정단자를측정대상물의측정대상영역에접촉시키는접촉식치수측정모듈; 측정대상물과측정단자의접촉상태를촬영한측정이미지를획득하고측정대상물에서측정대상영역의주변을촬영하는비접촉식치수측정모듈; 및접촉식치수측정모듈의전기신호로부터실제치수측정값과비접촉식치수측정모듈의측정이미지로부터예비치수측정값을구한후 비교해서, 예비치수측정값과실제치수측정값이서로다른때, 측정이미지를축적(scaling)시킨후 측정축적이미지를바탕으로측정대상영역의주변을이미지치수측정을수행하거나, 예비치수측정값과실제치수측정값이동일한때, 측정추가이미지를바탕으로측정대상영역의주변을이미지치수측정을수행하는제어부를포함한다.