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    Echelle-Spektrometer zur Untersuchung hochaufgelöster Teilspektren eines Echelle-Spektrums
    2.
    发明公开
    Echelle-Spektrometer zur Untersuchung hochaufgelöster Teilspektren eines Echelle-Spektrums 失效
    安排用于检查中阶梯光谱的高分辨率局部光谱。

    公开(公告)号：EP0332211A2

    公开(公告)日：1989-09-13

    申请号：EP89104303.6

    申请日：1989-03-10

    Applicant: Becker-Ross, Helmut, Dr. ,  Engel, Klaus-Eberhard, Dipl. Phys. ,  Engel, Susanne ,  Florek, Stefan, Dr. ,  Matzke, Wolf Ekkehard, Dipl. Ing. ,  Tischendorf, Reinhard, Dipl. Ing.

    Inventor： Becker-Ross, Helmut, Dr., Dipl.-Phys. ,  Florek, Stefan, Dr., Dipl.-Phys. ,  Tischendorf, Reinhard, Dipl.-Ing. ,  Engel, Klaus-Eberhard, Dipl.-Phys. ,  Matzke, Wolf-Ekkehard, Dipl.-Ing. ,  Engel, Susanne

    IPC: G01J3/28 ,  G01J3/36

    CPC classification number: G01J3/1809 ,  G01J3/2803

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Untersuchung hoch­aufgelöster Teilspektren eines Echelle-Spektrums und ist anwendbar zur gleichzeitigen Bestimmung der Intensität verschiedener Spektralelemente eines Strahlungsspektrums, das durch ein Echelle-Spektrometer erzeugt wird.
    Die Anordnung besteht aus einem ortsauflösenden photoelek­trischen Detektor mit mehreren auf einem IC-Chip (0) an­geordneten Photosensoren, wobei die Photosensoren auf der Chipfläche an den Orten vorausgewählter Spektrallinien diskret angeordnet sind und jeder Photosensoren aus einer CCD-Sensorzeile (4; 5; 6) und einer Logikschaltung besteht, die in Abhängigkeit von Aktivierungspegeln das Schalten von Versorgungspotentialen und Taktsignalen sowie die Übergabe von Ausgangssignalen auf eine gemeinsame Ausgangssignalleitung ermöglicht. Die einzelnen Sensor­elemente der CCD-Sensorzeilen sind bezüglich ihrer Flächen an die Spektralelemente des Echelle-Spektrums angepaßt und verlaufen nacheinander in Richtung der Dispersion des Echelle-Gitters. Die Gesamtzahl der Sensorelemente aller CCD-Sensorzeilen (4; 5; 6) auf dem Chip ist vorzugsweise geringer als die Anzahl der Spektralelemente im Echelle-­Spektrum. Eine digitale Logikschaltung erlaubt mittels der von ihr verwalteten Aktivierungspegel die serielle Auslesung der Signale einer wählbaren Teilmenge aus allen CCD-Sensorzeilen (4; 5; 6) in wählbarer Reihen­folge über die gemeinsame Ausgangssignalleitung in Ab­hängigkeit von äußeren Steuersignalen.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于检查中阶梯光谱的高分辨率局部光谱的布置中，并且适用于不同的光谱元件，其是由阶梯光栅光谱仪中产生的辐射光谱的强度的同时测定。 该装置包括具有（0）设置光传感器IC芯片上的多个空间分辨光电检测器中，所述的预选的光谱线的位置在芯片表面上的光传感器被离散地配置和CCD传感器线的每个光传感器（4; 5; 6） 和逻辑电路由使电源电位和时钟信号的切换和输出信号的上激活水平的传送到一个共同的输出信号线中的依赖。 CCD传感器线的各个传感器元件相对于匹配到它们的表面到阶梯频谱的频谱单元和在阶梯光栅的分散体的方向连续地延伸。 所有的CCD传感器的行的传感器元件的总数量（4; 5; 6）在芯片上优选比在阶梯频谱的频谱单元的数量少。 可以通过激活水平的管理手段允许的数字逻辑电路，可选择的部分量的来自所有CCD传感器线的信号的串行读出（4; 5; 6）通过在外部的控制信号而共用输出信号线的可选择的顺序排列。

    Spektrometer
    3.
    发明公开
    Spektrometer 失效
    光谱仪。

    公开(公告)号：EP0454284A1

    公开(公告)日：1991-10-30

    申请号：EP91250113.7

    申请日：1991-04-25

    Applicant: Florek, Stefan, Dr. ,  Becker-Ross, Helmut, Dr.

    Inventor： Florek, Stefan, Dr. Dipl.-Phys. ,  Güther, Reiner, Dr. ,  Becker-Ross, Helmut, Dr. Dipl.-Phys.

    IPC: G01J3/12

    CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/20

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Spektrometer, das in der Spektroskopie für die Analysenmeßtechnik eingesetzt werden kann.
    Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß bei einem Spektrometer zwischen Eintrittsspalt (7) und Beugungsgitter (2) als Element zur Bildfeldebnung ein mit mindestens zwei optisch wirksamen Flächen versehener Körper (9,10) geringer Brechkraft und merklichem sekundären Spektrum angeordnet ist.

    Abstract translation: 本发明涉及可用于分光计量学的光谱仪中的光谱仪。 本发明的特征在于，在入射狭缝（7）和折射光栅（2）之间布置具有低折射光焦度和具有标记二次光谱并且具有至少两个光学活性表面的元件（9,10）作为场平坦化元件 ）光谱仪。

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