公开(公告)号：WO2005107428A3

公开(公告)日：2006-04-13

申请号：PCT/US2005016095

申请日：2005-05-05

Applicant: QUALCOMM INC ,  HENDERSON ERIC LEE ,  DROP MICHAEL ,  KAZI TAUSEEF

Inventor： HENDERSON ERIC LEE ,  DROP MICHAEL ,  KAZI TAUSEEF

IPC: G06F1/32 ,  H04L7/00

CPC classification number: G06F1/3296 ,  G06F1/3203 ,  Y02D10/172

Abstract: Methods and apparatus for implementing a Dynamic Voltage Scaling (DVS) system are presented herein. In one embodiment, an embedded delay checker (EDC) cell is used to measure the actual activity and delay of a critical path within a microprocessor core, which is the basis for dynamically altering the voltage to the core. In another embodiment, a slaved ring oscillator (SRO) cell is placed adjacent to the microprocessor core and is used along with EDC cells to provide redundancy to a DVS system.

Abstract translation: 本文介绍了实现动态电压调节（DVS）系统的方法和设备。 在一个实施例中，使用嵌入式延迟检查器（EDC）单元来测量微处理器核心内的关键路径的实际活动和延迟，这是动态地改变对核心的电压的基础。 在另一个实施例中，从属环形振荡器（SRO）单元放置在与微处理器核心相邻的位置处，并与EDC单元一起使用以向DVS系统提供冗余。

公开(公告)号：WO2005107428A2

公开(公告)日：2005-11-17

申请号：PCT/US2005/016095

申请日：2005-05-05

Applicant: QUALCOMM INCORPORATED ,  HENDERSON, Eric Lee ,  DROP, Michael ,  KAZI, Tauseef

Inventor： HENDERSON, Eric Lee ,  DROP, Michael ,  KAZI, Tauseef

IPC: G06F1/32 ,  H04L7/00

CPC classification number: G06F1/3296 ,  G06F1/3203 ,  Y02D10/172

Abstract: Methods and apparatus for implementing a Dynamic Voltage Scaling (DVS) system are presented herein. In one embodiment, an embedded delay checker (EDC) cell is used to measure the actual activity and delay of a critical path within a microprocessor core, which is the basis for dynamically altering the voltage to the core. In another embodiment, a slaved ring oscillator (SRO) cell is placed adjacent to the microprocessor core and is used along with EDC cells to provide redundancy to a DVS system.

Abstract translation: 本文介绍了实现动态电压调节（DVS）系统的方法和设备。 在一个实施例中，使用嵌入式延迟检查器（EDC）单元来测量微处理器内核内的关键路径的实际活动和延迟，这是动态地改变对核心的电压的基础。 在另一个实施例中，从属环形振荡器（SRO）单元放置在与微处理器核心相邻的位置处，并与EDC单元一起使用以向DVS系统提供冗余。