公开(公告)号：WO2011117781A1

公开(公告)日：2011-09-29

申请号：PCT/IB2011/051102

申请日：2011-03-16

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS ,  MARINET, Fabrice ,  LISART, Mathieu

Inventor： MARINET, Fabrice ,  LISART, Mathieu

IPC: H01L23/58 ,  H01L23/485 ,  H03K19/003 ,  H04L9/06 ,  G06F21/00 ,  G06F7/10 ,  G06K19/073

CPC classification number: G06F1/26 ,  G06F21/72 ,  G06K19/07309 ,  H01L21/76224 ,  H01L23/576 ,  H01L2924/0002 ,  H03K3/84 ,  H03K19/003 ,  H04L9/004 ,  H04L2209/12 ,  Y10T29/49155 ,  H01L2924/00

Abstract: L'invention concerne un procédé de contremesure dans un microcircuit électronique (IC1, IC2, IC3), comprenant des phases de traitement successives exécutées par un circuit du microcircuit, et une étape d'ajustement d'une tension d'alimentation (vdd-Vgb1 ) entre des bornes d'alimentation (VS1, VS2, VS3) et de masse (LG1, LG2, LG3) du circuit, en fonction d'une valeur aléatoire générée pour la phase de traitement, à chaque phase de traitement exécutée par le circuit.

Abstract translation: 本发明涉及一种电子微电路（IC1，IC2，IC3）中的对策方法，所述方法包括由微电路由电路执行的连续的处理阶段，以及调整电路的电源电压（vdd-Vgb1） 在电路执行的每个处理阶段，基于为处理阶段产生的随机值，电路的电源端子（VS1，VS2，VS3）和接地端子（LG1，LG2，LG3）。