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    サンプルホルダ及びその操作方法
    5.
    发明专利
    サンプルホルダ及びその操作方法 有权

    公开(公告)号：JP2017157544A

    公开(公告)日：2017-09-07

    申请号：JP2016119091

    申请日：2016-06-15

    Applicant: 閤康生物科技股▲ふん▼有限公司 ,  BIO MATERIALS ANALYSIS TECHNOLOGY INC.

    Inventor： 張平 ,  陳弘仁

    IPC: H01J37/26 ,  H01J37/20

    Abstract: 【課題】本発明は、第一サンプルを透過式電子顕微鏡のチャンバー内に投入するのに適するサンプルホルダを提供する。 【解決手段】サンプルホルダ100は本体110、サンプルプリセット装置120及びサンプル搬送装置130を備える。本体110はチャンバー52と結合してチャンバー52内に密閉空間を形成するのに適する。本体110はチャンバー52の挿入に適する挿入部112とチャンバー52外部に保持される外接部114を備える。サンプルプリセット装置120は本体110内に配置され、第一サンプル10を搬送するのに用いられる。サンプル搬送装置130は本体110内に配置され、サンプルプリセット装置120と接続され、サンプルプリセット装置120の第一サンプル10を順番に密閉空間の観察エリアへ搬送する、及び、観察後の第一サンプル10を順番に観察エリアからサンプルプリセット装置120へ搬送するのに用いられる。 【選択図】図2

    サンプル収集デバイス及びその製造方法及びサンプル収集デバイスアレイ
    6.
    发明专利
    サンプル収集デバイス及びその製造方法及びサンプル収集デバイスアレイ 有权
    样本收集装置和它的制造方法和样品收集装置阵列

    公开(公告)号：JP2017015682A

    公开(公告)日：2017-01-19

    申请号：JP2015220724

    申请日：2015-11-10

    Applicant: 閤康生物科技股▲ふん▼有限公司 ,  BIO MATERIALS ANALYSIS TECHNOLOGY INC.

    Inventor： 張 ▲平▼ ,  陳 弘仁

    IPC: G01N1/28

    CPC classification number: G01N1/2813 ,  H01J37/20 ,  H01J37/26 ,  H01J37/32009

    Abstract: 【課題】サンプル収集デバイス及びその製造方法及びサンプル収集デバイスアレイを提供する。 【解決手段】サンプル収集デバイス200は2つの基板とスペーサ230を備える。各基板は第一表面及び第二表面を備え、且つ2つの基板の第一表面は向かい合わせて設置される。スペーサは、2つの基板の間にサンプル収容空間240を形成するよう、2つの基板を連接し固定するために、2つの第一表面の間に設置される。さらに、各基板は、第一弱化構造250を有し、第一弱化構造はサンプル収容空間の周辺に位置し、且つ第一表面に露出される。また、サンプル収集デバイスアレイは複数のサンプル収集デバイスを含む。 【選択図】図1A

    Abstract translation: 以提供样本收集装置和它的制造方法和样品收集装置阵列。 的取样装置200包括两个基板和间隔件230。 每个基底具有第一表面和第二表面，和基片的两个第一表面放置面对面。 隔离物，以形成样品接收空间240中的两个衬底之间，以串联固定两个基板，布置在两个第一表面之间。 此外，每个衬底具有第一弱化结构250中，第一弱化结构位于样品接收空间，是与暴露于所述第一表面上。 此外，所述样品收集装置阵列包括多个样品收集装置。 点域1A

    ANALYSIS SYSTEM, AUXILIARY ANALYSIS APPARATUS AND ANALYSIS METHOD
    7.
    发明公开
    ANALYSIS SYSTEM, AUXILIARY ANALYSIS APPARATUS AND ANALYSIS METHOD 审中-公开

    公开(公告)号：US20230326730A1

    公开(公告)日：2023-10-12

    申请号：US17852321

    申请日：2022-06-28

    Applicant: Materials Analysis Technology Inc.

    Inventor： YU-TEH CHUNG ,  YEN-AN TSAI ,  HUNG-JEN CHEN

    IPC: H01J49/00 ,  G01N30/72 ,  G01N30/86

    CPC classification number: H01J49/0031 ,  G01N30/7206 ,  G01N30/8651 ,  G01N2030/025

    Abstract: An analysis system, an auxiliary analysis apparatus, and an analysis method are provided. The analysis method is used to perform a composition analysis operation on an analyte of a sample, and includes: a first heating step, a first mass spectrometry analysis step, a second heating step, a second mass spectrometry analysis step, and an analysis step. A heating device heats a non-analyzed area and a to-be-analyzed area of the sample in the first and the second heating step, respectively. In the first and the second mass spectrometry analysis step, gas generated after heating of the sample is guided into a gas chromatography-mass spectrometer, and two pieces of analysis data are correspondingly obtained. The analysis step is to compare the two pieces of analysis data and generate analysis result data. The analysis result data contains components of a composition that forms at least one portion of the analyte.

    SAMPLE ANALYZING METHOD AND SAMPLE PREPARING METHOD
    8.
    发明申请
    SAMPLE ANALYZING METHOD AND SAMPLE PREPARING METHOD 有权

    公开(公告)号：US20220334140A1

    公开(公告)日：2022-10-20

    申请号：US17388125

    申请日：2021-07-29

    Applicant: Materials Analysis Technology Inc.

    Inventor： KENG-CHIEH CHU ,  TSUNG-JU CHAN ,  CHUN-WEI WU ,  HUNG-JEN CHEN

    IPC: G01N35/00 ,  H01J37/26 ,  G06K7/14

    Abstract: A sample analyzing method and a sample preparing method are provided. The sample analyzing method includes a sample preparing step, a placing step, and an analyzing step. The sample preparing step includes an obtaining step implemented by obtaining an identification information; and a marking and placing step implemented by placing a sample carrying component having a sample disposed thereon into a marking equipment, allowing the marking equipment to utilize the identification information to form an identification structure on the sample carrying component, and placing the sample carrying component into one of the accommodating slots according to the identification information. The placing step is implemented by taking out the sample carrying component from one of the accommodating slots and placing the sample carrying component into an electron microscope equipment. The analyzing step is implemented by utilizing the electron microscope equipment to photograph the sample to generate an analyzation image.

    CARRIER DEVICE AND CARRIER KIT
    9.
    发明申请
    CARRIER DEVICE AND CARRIER KIT 有权

    公开(公告)号：US20220013325A1

    公开(公告)日：2022-01-13

    申请号：US17026317

    申请日：2020-09-21

    Applicant: Materials Analysis Technology Inc.

    Inventor： HUNG-JEN CHEN

    IPC: H01J37/20

    Abstract: A carrier device and a carrier kit are provided. The carrier kit includes the carrier device and a specimen carrier. The carrier device carries the specimen carrier and is configured to be fixedly disposed on a specimen holder. The specimen carrier has two observation grooves and a containing channel that is formed therein, and the two observation grooves are configured to expose a part of the containing channel The carrier device has a containing groove that is recessed on a side of a main body and an observation port. When the specimen carrier is disposed in the containing groove, one of the observation grooves is exposed from the main body through the observation port. At least one limiting element is configured to limit a range of movement of the specimen carrier disposed in the containing groove relative to the main body.

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