Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Steuerung des Datenflusses beim Einsatz von Retikeln in einer Halbleiter-Bauelement Produktion, dadurch gekennzeichnet, dass den Retikeln jeweils eindeutig ein strukturierter Retikeldatensatz zugeordnet ist, wobei der Inhalt des Retikeldatensatzes in Abhängigkeit vom Herstellungsprozess eines Halbleiter-Bauelementes automatisch geändert und / oder ergänzt wird. Damit kann die Verwendung von Retikeln in einer Halbleiter-Bauelement Fertigung effizient gesteuert werden.
Abstract:
The invention relates to a method and a device for control of the data flow on application of reticles in a semiconductor component production, characterised in that the reticles each have a unique structured reticle data set, whereby the content of the reticle data set can be automatically altered and/or completed, depending on the production process for a semiconductor component. The application of reticles in a semiconductor component production can thus be efficiently controlled.