公开(公告)号：KR101651411B1

公开(公告)日：2016-08-29

申请号：KR1020150077312

申请日：2015-06-01

Applicant: (주)이미지스테크놀로지

Inventor： 권영신 ,  조용진 ,  황호연

IPC: G01R31/02 ,  G01R23/02 ,  G01R31/28 ,  G06F3/041

Abstract: 본발명은 Tx 반파형을이용한터치패널의단락검출방법에관한것으로서, 보다구체적으로는 Tx 반파형을이용한터치패널의단락검출방법으로서, (1) 터치컨트롤러(IC)가터치패널에형성한 Tx 채널을오프(Off)시킨상태에서각 노드의 Rx 채널을통해제1 측정값을검출하는단계; (2) 상기터치컨트롤러가상기터치패널에형성한 Tx 채널에반 파장구형파를인가한상태에서각 노드의 Rx 채널을통해제2 측정값을검출하는단계; 및 (3) 상기터치컨트롤러가상기제1 측정값과상기제2 측정값을비교하여단락여부를판단하는단계를포함하는것을그 구성상의특징으로한다. 본발명에서제안하고있는 Tx 반파형을이용한터치패널의단락검출방법에따르면, Tx 채널의오프상태에서각 노드의 Rx 채널을통해제 1측정값을검출하고, Tx 패널에반 파장구형파를인가한상태에서각 노드의 Rx 채널을통해제2 측정값을검출한후 2개의측정값을비교하여단락여부를판단할수 있도록함으로써, 별도회로의구현없이터치컨트롤러(IC)의기본기능을이용하여일관된방법으로단락을선별할수 있도록할 수있다. 또한, 본발명에따르면, 기존의종래검출방법에비해불량위치를명확히할 수있으며, 터치컨트롤러(IC)에별도회로(단일채널에전하인가후 전하가인가되지않은다른전체채널에서전하량을측정) 구성없이터치컨트롤러(IC)에존재하는기능만으로측정이가능하기때문에추가비용이발생되지않도록할 수있다. 뿐만아니라, 본발명은, 실제터치컨트롤러(IC)가동작하는상태와동일한상태에서측정되기때문에단락에의해터치성능이영향받는수준의불량만검출이가능하도록함으로써, 불량정도에대한성능저하여부를별도로판단할필요가없도록할 수있다.

Abstract translation: 本发明涉及使用Tx半波形的触摸面板的短路检测方法。 该方法包括：使触摸控制器（IC）能够检测第一测量值的步骤（S110）; 使触摸控制器能够检测第二测量值的步骤（S120）; 以及使触摸控制器能够将第一测量值与第二测量值进行比较以确定触摸面板是否短路的步骤（S130）。 因此，该方法可以通过使用触摸控制器的基本功能来确定触摸板是否短路而不实现单独的电路。