激光振荡器
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100379099C

    公开(公告)日:2008-04-02

    申请号:CN03826101.4

    申请日:2003-03-17

    Abstract: 本发明的激光振荡器,具有:激励光源模块,其形成有冷却激励光源的冷却水路;聚光器单元块,其具有收容激光介质的通孔,设置用于向该通孔导入来自于激励光源模块的激励光的开口;端板,其固定于该聚光器单元块的端部,形成有使冷却水导入上述聚光器单元块及上述激励光源模块的冷却水路;流管,其由该端板固定及密封,形成对上述激光介质的冷却水路;以及激励光源模块侧冷却水路的开口,其设置于上述端板的垂直于前表面的侧面,与形成于上述激励光源模块上的、冷却激励光源的冷却水路连通,形成冷却激励光源的冷却水路。

    基板测量装置及激光加工系统

    公开(公告)号:CN109475974B

    公开(公告)日:2021-01-01

    申请号:CN201780042748.X

    申请日:2017-06-16

    Abstract: 基板测量装置(1)具有:测量用照相机(8),其取得基板(5)的图像数据,该基板(5)设置有定位用的对准标记(7),具有被激光加工后的被加工部(6);测量工作台(4),其搭载基板(5),对基板(5)和测量用照相机(8)的相对位置进行变更;图像处理部(12),其基于图像数据及测量工作台(4)的位置信息,求出对准标记(7)的测量位置坐标及被加工部(6)的测量位置坐标;变换系数计算部(13),其求出从对准标记(7)的测量位置坐标向对准标记(7)的设计位置坐标的变换系数;以及加工误差计算部(14),其使用变换系数将被加工部(6)的测量位置坐标坐标变换为变换后位置坐标,根据变换后位置坐标和被加工部(6)的设计位置坐标之差而求出加工误差。

    基板测量装置及激光加工系统

    公开(公告)号:CN109475974A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201780042748.X

    申请日:2017-06-16

    Abstract: 基板测量装置(1)具有:测量用照相机(8),其取得基板(5)的图像数据,该基板(5)设置有定位用的对准标记(7),具有被激光加工后的被加工部(6);测量工作台(4),其搭载基板(5),对基板(5)和测量用照相机(8)的相对位置进行变更;图像处理部(12),其基于图像数据及测量工作台(4)的位置信息,求出对准标记(7)的测量位置坐标及被加工部(6)的测量位置坐标;变换系数计算部(13),其求出从对准标记(7)的测量位置坐标向对准标记(7)的设计位置坐标的变换系数;以及加工误差计算部(14),其使用变换系数将被加工部(6)的测量位置坐标坐标变换为变换后位置坐标,根据变换后位置坐标和被加工部(6)的设计位置坐标之差而求出加工误差。

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