公开(公告)号：CN105814428A

公开(公告)日：2016-07-27

申请号：CN201480066552.0

申请日：2014-06-16

Applicant: 三菱综合材料株式会社

Inventor： 新田明 ,  大西道彰 ,  富冈贤一 ,  筒井智大 ,  高木真言

IPC: G01N1/04 ,  G01N1/28

CPC classification number: G01N1/28 ,  B09B3/00 ,  B09B5/00 ,  G01N1/04 ,  G01N2001/282 ,  G06T1/0007 ,  H04N7/183 ,  H04N9/3161

Abstract: 根据本发明的取样方法，可通过取样位置显示装置(10)的控制部(12)，例如通过个人计算机，随机生成取样试样(G)的取样位置坐标即位置信息，并根据该位置信息，通过激光在成为再生原料一部分的取样试样(G)上显示取样位置。由此，当对用于确定取样试样(G)的平均品位例如有价金属的平均含量的份样进行取样时，能够可靠地排除操作人员人为地选定取样位置的随意性。

公开(公告)号：CN105814428B

公开(公告)日：2019-04-02

申请号：CN201480066552.0

申请日：2014-06-16

Applicant: 三菱综合材料株式会社

Inventor： 新田明 ,  大西道彰 ,  富冈贤一 ,  筒井智大 ,  高木真言

IPC: G01N1/04 ,  G01N1/28

Abstract: 根据本发明的取样方法，可通过取样位置显示装置(10)的控制部(12)，例如通过个人计算机，随机生成取样试样(G)的取样位置坐标即位置信息，并根据该位置信息，通过激光在成为再生原料一部分的取样试样(G)上显示取样位置。由此，当对用于确定取样试样(G)的平均品位例如有价金属的平均含量的份样进行取样时，能够可靠地排除操作人员人为地选定取样位置的随意性。