测量装置及测量的方法

    公开(公告)号:CN103769965B

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201310424817.7

    申请日:2013-09-17

    CPC classification number: G01B5/10 B24B5/42 B24B49/045 G01B5/08 G01B5/201

    Abstract: 本发明提供一种用于对加工机床,特别是磨床(4)上的处于加工过程中的试件进行测量的测量装置(2),其具有一个基体(18)和一个测量头12),所述测量头在停机位置与测量位置之间移动,所述测量头经由一个传动杆(14)与所述基体18)连接,所述传动杆使得所述测量头(12)在测量位置随着所述试件围绕旋转轴的轨道旋转,其中所述测量头(12)具有沿一个直线轴偏转的探头(36),所述探头用于在测量过程中接收测量值,还具有一个控制装置(80),所述控制装置用于控制所述测量过程。根据本发明,所述控制装置(80)使得所述测量装置在校准模式下进行校准。

    测量装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103769965A

    公开(公告)日:2014-05-07

    申请号:CN201310424817.7

    申请日:2013-09-17

    CPC classification number: G01B5/10 B24B5/42 B24B49/045 G01B5/08 G01B5/201

    Abstract: 本发明提供一种用于对加工机床,特别是磨床(4)上的处于加工过程中的试件进行测量的测量装置(2),其具有一个基体(18)和一个测量头(12),所述测量头在停机位置与测量位置之间移动,所述测量头经由一个传动杆(14)与所述基体(18)连接,所述传动杆使得所述测量头(12)在测量位置随着所述试件围绕旋转轴的轨道旋转,其中所述测量头(12)具有沿一个直线轴偏转的探头(36),所述探头用于在测量过程中接收测量值,还具有一个控制装置(80),所述控制装置用于控制所述测量过程。根据本发明,所述控制装置(80)使得所述测量装置在校准模式下进行校准。

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