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发明公开
硅纯度测定器、硅分类装置以及硅纯度测定方法无效

公开(公告)号：CN102549418A

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN200980161762.7

申请日：2009-10-13

Applicant: 东洋玻璃株式会社

Inventor： 泷泽务 , 成川利明

IPC: G01N27/72

CPC classification number: G01N27/83

Abstract: 本发明提供一种可防止硅的金属污染并能够测定硅的内部纯度的硅纯度测定器、硅分类装置以及硅纯度测定方法。硅纯度测定器(10)包括：检查台；产生测定用磁场，并使磁通穿过配置于该检查台上的硅的内部的磁场发生器(14)；判断瞬断测定用磁场后的磁场衰减程度的判断部(36)，所述硅纯度测定器(10)根据判断部(36)所判断的衰减程度来确定硅的内部纯度。

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