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公开(公告)号：CN115436125A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202211058719.1
申请日：2022-08-31
Applicant: 中信戴卡股份有限公司
IPC: G01N1/28
Abstract: 一种X光检测用缺陷样件的制备方法，缺陷样件为任意易机加工的金属材料。本发明的有益效果在于，通过缺陷样件与编程样件的结合，避免在工件表面进行人工打孔从而破坏样件，提高铸件金属利用率，因要保证打孔直径及深度相同，规避了编程样件表面人工钻孔的不稳定因素，其可以满足多种X光拍摄角度，保证缺陷位置打孔方向与X光拍摄方向的一致性，提高了缺陷孔所要求的精确及有效性。
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