公开(公告)号：CN105891066A

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201610224899.4

申请日：2016-04-11

Applicant: 中国计量学院

Inventor： 孔明 ,  沈海栋 ,  赵军 ,  郭天太 ,  王道档 ,  刘维 ,  单良 ,  杨瑶 ,  叶婷 ,  贾茜媛 ,  沈永

IPC: G01N15/02

CPC classification number: G01N15/0211

Abstract: 本发明提供一种颗粒粒度检测装置及检测方法，涉及测试技术领域。它包括：光源、调制单元、样品池、分光棱镜、筛选转换单元和计算单元；筛选转换单元分别筛选出平行和垂直于散射面的散射光分量，并转换成光能量数据，进行反演计算求解颗粒粒径分布信息。本发明解决了现有技术中颗粒粒度检测装置结构复杂、操作不方便、使用成本高的技术问题。本发明有益效果为：根据两个散射光分量的比值进行颗粒粒度反演，这样有效地降低了光路中空气和杂散颗粒的影响，提高了颗粒粒度测量可靠性。结构简单合理，制造成本低。操作简单，携带方便，适应在线检测。

公开(公告)号：CN205607812U

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201620296430.7

申请日：2016-04-11

Applicant: 中国计量学院

Inventor： 孔明 ,  沈海栋 ,  赵军 ,  郭天太 ,  王道档 ,  刘维 ,  单良 ,  杨瑶 ,  叶婷 ,  贾茜媛 ,  沈永

IPC: G01N15/02

Abstract: 本实用新型提供一种颗粒粒度检测装置，涉及测试技术领域。激光器发出的激光束依次通过扩束准直系统、样品池和分光棱镜，激光束分成两路，一路依次经过偏振片Ⅰ、傅里叶透镜Ⅰ射入光电探测器Ⅰ，另一路依次经过偏振片Ⅱ、傅里叶透镜Ⅱ射入光电探测器Ⅱ，光电探测器Ⅰ和光电探测器Ⅱ分别与A/D转换模块电连接。本实用新型解决了现有技术中颗粒粒度检测装置结构复杂、操作不方便、使用成本高的技术问题。本实用新型有益效果为：提高了颗粒粒度测量可靠性。结构简单合理，制造成本低。操作方便，便于携带，适应在线检测。