公开(公告)号：TW200818235A

公开(公告)日：2008-04-16

申请号：TW096117789

申请日：2007-05-18

Applicant: 中央研究院 ACADEMIA SINICA

Inventor： 王亦生 WANG, YI SHENG ,  陳仲瑄 CHEN, CHUNG HSUAN ,  蔡尚庭 TSAI, SHANG TING ,  陳邱文 CHEN, CHIU WEN

IPC: H01J

CPC classification number: H01J49/40 ,  H01J49/0095

Abstract: 一種雙極質譜儀,其包括一離子源電極,一第一質量分析器及一第二質量分析器,其係同步量測一樣品物質的負離子及正離子之質譜。其中,離子源電極具有一樣品表面(sample surface),樣品表面上係設置有樣品物質,當以一雷射光束或一高能粒子束激化樣品物質時,樣品物質係產生正離子及負離子;一第一汲取電極之電壓係高於樣品表面之電壓以便自樣品表面吸引負離子,且一第二汲取電極之電壓係低於樣品表面之電壓以便自樣品表面吸引正離子;第一質量分析器及第二質量分析器係分別用以分析負離子及正離子。

Abstract in simplified Chinese: 一种双极质谱仪,其包括一离子源电极,一第一质量分析器及一第二质量分析器,其系同步量测一样品物质的负离子及正离子之质谱。其中,离子源电极具有一样品表面(sample surface),样品表面上系设置有样品物质,当以一激光光束或一高能粒子束激化样品物质时,样品物质系产生正离子及负离子;一第一汲取电极之电压系高于样品表面之电压以便自样品表面吸引负离子,且一第二汲取电极之电压系低于样品表面之电压以便自样品表面吸引正离子;第一质量分析器及第二质量分析器系分别用以分析负离子及正离子。

公开(公告)号：TW200809246A

公开(公告)日：2008-02-16

申请号：TW095130783

申请日：2006-08-22

Applicant: 中央研究院 ACADEMIA SINICA

Inventor： 王亦生 WANG, YI SHENG ,  蔡尚庭 TSAI, SHANG TING

IPC: G01T

CPC classification number: G01T1/362 ,  H01J49/025 ,  H01J2237/244

Abstract: 一種用於偵測粒子光束的粒子偵測器,該粒子偵測器包括:負帶電荷電極板,其具有面對粒子束的第一側邊、相對於該第一側邊的第二側邊,及一穿透通孔。該穿透通孔由該第一側邊延伸至第二側邊用於接收該粒子束。鄰接於該電極板之該第二側邊的偵測裝置,偵測進入該穿透通孔的粒子束之訊號。

Abstract in simplified Chinese: 一种用于侦测粒子光束的粒子侦测器,该粒子侦测器包括:负带电荷电极板,其具有面对粒子束的第一侧边、相对于该第一侧边的第二侧边,及一穿透通孔。该穿透通孔由该第一侧边延伸至第二侧边用于接收该粒子束。邻接于该电极板之该第二侧边的侦测设备,侦测进入该穿透通孔的粒子束之信号。