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公开(公告)号：CN110557194A
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201910697787.4
申请日：2019-07-31
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
IPC: H04B10/079
Abstract: 本发明公开了一种基于多线程的模块化光波参数测试系统和方法，包括光波测试平台和功能测试模块，功能测试模块分为光源模块、光功率计模块、光衰减模块、光开关模块、光回损模块和光谱分析模块，光波测试平台设置有多个模块插槽，每个模块插槽内能插入一个功能测试模块。通过为每个功能测试模块设计相应的测试线程，测试线程对相应的功能测试模块独立进行控制测试。采用多线程方式设计了一种满足全部功能测试要求的测试方法，能够自适用各个插入模块，自动生成对应线程模式，独立完成对该功能模块的控制测试，达到同时对光源模块、光功率计模块、光衰减模块、光开关模块、光回损模块、光谱分析模块的控制测试效果。
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公开(公告)号：CN109307550A
公开(公告)日：2019-02-05
申请号：CN201811357346.1
申请日：2018-11-15
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
IPC: G01J1/02
Abstract: 本发明公开了一种提高光功率计稳定度的温度补偿方法，具体涉及光功率计温度补偿技术领域。其解决了现有的光功率计无温度补偿装置，在光功率计长时间测试时，受电路本身发热及周围环境温度变化影响，导致测试不确定度增加的不足。该提高光功率计稳定度的温度补偿方法，将光功率计放置在高低温箱中，自-10℃～40℃依次调节温度，CPU模块记录每个温度点的不同档位的零点值，依据基准温度计算温差导致的当前档位零点漂移；CPU模块得到光电探测器探测的光功率值，设置当前光功率探测档位，并获取温度传感器探测的实时温度，CPU模块依据基准温度在当前档位产生的温度漂移，通过温度补偿电路将零点漂移的校准因子发送至二次放大电路进行硬件电路补偿。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112050967A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202010775080.3
申请日：2020-08-05
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光纤温度分布测试仪的光纤温度自动校准及补偿方法，涉及光纤温度校准补偿领域。该方法斯托克斯与反斯托克斯自动计算为基础，通过对光纤温度分布测试仪中斯托克斯与反斯托克斯数据进行深入分析，实现对温度校准点的自动识别以及温度补偿的自动计算。同时针对实际应用长度发生变化的情况，提出一种对反射信号功率补偿的方法，并实现自动修正计算参数功能，该自动测试方法节省人工成本、校准精度高、校准效率高、无需硬件改动、不增加硬件成本，可以有效提高ROTDR生产及使用过程中的温度补偿速度。
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公开(公告)号：CN110806264A
公开(公告)日：2020-02-18
申请号：CN201911146493.9
申请日：2019-11-21
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本发明属于光电测试技术领域，涉及一种CCD光电探测器积分时间控制方法。一种自适应光强的CCD光电探测器积分时间控制方法，包括(1)：设置初始积分时间为ti，其中，tmin＜ti＜tmax；(2)：采集光谱信号[s1，s2…，sm]，计算光谱信号均值savg；(3)：采集和计算光谱噪声σdark；(4)：判断savg与δ·σdark的大小关系，δ为暗噪声影响因子：若savg＜δ·σdark，设置积分时间为tj，tmin＜tj＜tmax，且tj≠ti，并转至步骤(1)；若savg≥δ·σdark，先进行光谱信号去噪，再进行积分时间设置。本发明的方法，根据光照强度自适应的调整积分时间，同时考虑暗噪声对输出信号的影响自适应的调整积分时间，速度快、精度高具有自适应性，可应用于自动测试、快速测试等场景。
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公开(公告)号：CN109282898A
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201811357344.2
申请日：2018-11-15
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本发明公开了一种退卷积的超高光谱分辨率增强方法，具体涉及光谱分析技术领域。该方法首先建立基于受激布里渊效应的光谱分析系统中单模保偏光纤产生的受激布里渊增益谱数学模型，然后在光谱分析系统的每一光谱采样点，基于受激布里渊增益谱数学模型，对测量得到的超高光谱进行退卷积，最后采用帕德逼近光谱拟合方法消除退卷积得到的超高光谱中可能存在的光谱缺陷，从而实现超高光谱分辨率的增强。本发明采用的光谱分辨率增强方法，极大的提高基于受激布里渊效应的光谱分析系统的光谱分辨率能力，突破受激布里渊增益谱宽对于光谱分析系统的光谱分辨率限制，将光谱分辨率由受限的几十MHz提高到1MHz以下。
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公开(公告)号：CN112161779A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202010935402.6
申请日：2020-09-08
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种提高偏振消光比测量精度的方法，其中，基于方法中采用对数放大采集电路的检偏系统，测试光经过第一透镜准直后，通过旋转检偏器改变光的偏振态，再经过第二透镜汇聚，出来的光信号最后通过探测器、对数采集模块后转换成数字量，送到MCU中计算出功率值和消光比值。本发明的优势：1.更改采集电路，使用对数放大器作为消光比测试仪的电流转电压电路；2.利用等间隔延时重复采样的方式采集功率值，提高消光比的测试精度。3、减少原来消光比测试仪由于换挡造成的测试误差；4、提高消光比测量的动态范围。
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公开(公告)号：CN109282898B
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201811357344.2
申请日：2018-11-15
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本发明公开了一种退卷积的超高光谱分辨率增强方法，具体涉及光谱分析技术领域。该方法首先建立基于受激布里渊效应的光谱分析系统中单模保偏光纤产生的受激布里渊增益谱数学模型，然后在光谱分析系统的每一光谱采样点，基于受激布里渊增益谱数学模型，对测量得到的超高光谱进行退卷积，最后采用帕德逼近光谱拟合方法消除退卷积得到的超高光谱中可能存在的光谱缺陷，从而实现超高光谱分辨率的增强。本发明采用的光谱分辨率增强方法，极大的提高基于受激布里渊效应的光谱分析系统的光谱分辨率能力，突破受激布里渊增益谱宽对于光谱分析系统的光谱分辨率限制，将光谱分辨率由受限的几十MHz提高到1MHz以下。
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