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公开(公告)号:CN110553992A
公开(公告)日:2019-12-10
申请号:CN201910737413.0
申请日:2019-08-12
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
IPC: G01N21/35
Abstract: 本发明公开了一种红外光谱高速测量系统及方法,属于红外光谱分析领域,该测量系统包括光频率梳源模块、光学模块、探测与数据采集模块、数据处理模块和控制模块。本发明具备非常宽的光谱测量范围,同时兼顾了测量时间和光谱分辨率,可满足时间分辨率光谱分析的应用需求;可通过更换为太赫兹工作波段的光频率梳源、光路器件、探测器等,实现太赫兹波段的时间分辨光谱测量;无需运动部件或调谐处理等手段实现光谱分光,直接采用双频率梳拍频方式的光学光谱扫描方式,单次即可获取全波段的超高分辨率光谱信息,天生具备超高测量速度的优势,采用本发明技术的光谱分析系统的测量速度,主要受到电子学探测链路等的影响。
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公开(公告)号:CN110553993A
公开(公告)日:2019-12-10
申请号:CN201910737427.2
申请日:2019-08-12
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
IPC: G01N21/35
Abstract: 本发明公开了一种光谱测量系统及多外差拍频信号探测及数据处理方法,属于红外光谱分析领域,光谱测量系统包括光源梳、本振梳、样品室、反射镜、红外探测器以及数据采集卡和计算机;本发明方法可实现基于双光频率梳多外差拍频方法的红外光谱高速测量系统,产生的多外差拍频光学信号的高速、高灵敏度探测即数据采集,并得到待测样品的光谱信息,满足化学、生物、集成芯片材料、特种功能新材料等领域的瞬变态过程及瞬变产物等领域的研究需求。
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公开(公告)号:CN112082647A
公开(公告)日:2020-12-15
申请号:CN202010775196.7
申请日:2020-08-04
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于精细光谱的带内OSNR测量装置及方法,装置包括待测光输入模块、偏振调制模块、精细光谱测量模块、处理与分析模块。所述待测光输入模块对待测信号光功率进行调控,以使待测信号光的功率水平满足后续处理需要;所述偏振调制模块对待测信号光进行偏振处理,以消除待测信号偏振效应对于带内OSNR测量精度的影响;所述精细光谱测量模块,依次获取偏振调制模块分离的光传输信号分量与噪声分量的pm分辨率的精细光谱信息;所述处理与分析模块支持采用偏振归零法、差分光谱响应法、差分光谱分辨率带宽鉴别方法、噪声拟合法等多种带内OSNR反演算法,实现高速光传输系统的带内OSNR的高精度测量。
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公开(公告)号:CN109253801B
公开(公告)日:2020-12-01
申请号:CN201811357345.7
申请日:2018-11-15
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明公开了一种近红外偏振光谱测试装置及方法,具体涉及近红外波段的光通信领域。其解决了现有的通道调制技术无法满足高速光通信中激光光源、DWDM组合光源等窄带光信号的偏振光谱测试的不足。该近红外偏振光谱测试装置,包括沿光路方向依次放置的准直物镜、高速偏振调制组件、汇聚物镜和红外扫描单色仪,高速偏振调制组件和红外扫描单色仪连接控制和数据处理系统,高速偏振调制组件包括沿光轴依次设置的第一液晶调制相位延迟片、第二液晶调制相位延迟片和近红外线偏振片,红外扫描单色仪包括沿光轴依次设置的入射狭缝、偏振分束镜、宽谱段四分之一波片、反射式准直物镜、平面全息光栅、旋转步进电机、反射式汇聚物镜、反射狭缝和单点探测器。
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公开(公告)号:CN111998944A
公开(公告)日:2020-11-27
申请号:CN202010898913.5
申请日:2020-08-31
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于多光源的宽波段光谱仪精确校准装置及方法,其中装置包括:标准光源、光源控制器、1×N光开关、可调光衰减器、1×2光开关、标准光功率计、驱动电路;标准光源可以是具有物质吸收谱线或原子发射谱线的光源,也可以是窄线宽且功率稳定的激光器或可调谐激光源。标准光源分别由光源控制器控制产生特定波长的谱线。标准光源由光纤接入1×N光开关的任一通道,1×N光开关根据控制指令选择通道,选择一个标准光源的输出光通过,进入可调光衰减器。本发明的基于多光源的宽波段光谱仪精确校准装置,采用1×N光开关自动切换多种光源组合的方式,无需手动切换,可适用于宽波段光谱仪的多种标准光源的波长校准和功率校准。
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公开(公告)号:CN109253801A
公开(公告)日:2019-01-22
申请号:CN201811357345.7
申请日:2018-11-15
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明公开了一种近红外偏振光谱测试装置及方法,具体涉及近红外波段的光通信领域。其解决了现有的通道调制技术无法满足高速光通信中激光光源、DWDM组合光源等窄带光信号的偏振光谱测试的不足。该近红外偏振光谱测试装置,包括沿光路方向依次放置的准直物镜、高速偏振调制组件、汇聚物镜和红外扫描单色仪,高速偏振调制组件和红外扫描单色仪连接控制和数据处理系统,高速偏振调制组件包括沿光轴依次设置的第一液晶调制相位延迟片、第二液晶调制相位延迟片和近红外线偏振片,红外扫描单色仪包括沿光轴依次设置的入射狭缝、偏振分束镜、宽谱段四分之一波片、反射式准直物镜、平面全息光栅、旋转步进电机、反射式汇聚物镜、反射狭缝和单点探测器。
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