公开(公告)号：CN112050943A

公开(公告)日：2020-12-08

申请号：CN202010770012.8

申请日：2020-08-04

Applicant: 中电科仪器仪表有限公司

Inventor： 郭洪龙 ,  刘志明 ,  闫继送 ,  任从文 ,  张冰 ,  刘雷 ,  毕宗义 ,  胡垒军 ,  袁明 ,  王建国

IPC: G01J4/00

Abstract: 本发明公开了一种光扰偏器扰偏后光的偏振度测试方法，属于光学测量技术领域。现有技术使用偏振态分析仪，通过偏振度公式近似求得光扰偏器扰偏后光的偏振度，这种方法所需仪器昂贵、系统复杂。本发明所述方法包括如下步骤：使用单模光纤跳线依次连接保偏光源、偏振控制器、待测光扰偏器、检偏器和光功率计；保偏光源产生偏振态稳定的完全偏振光；利用上位机调整偏振控制器，使偏振控制器输出光偏振态为S1；将光功率计测试过程的平均时间调整为t1；利用上位机调整检偏器角度，从0°调整到360°，调整步进为2°，调整过程中实时记录光强度值，求得最大光强度Pmax和最小光强度Pmin；得出平均时间为t1、输入偏振态光为S1时待测光扰偏器扰偏后光的偏振度。