公开(公告)号：CN114279322A

公开(公告)日：2022-04-05

申请号：CN202111152316.9

申请日：2021-09-29

Applicant: 丰田合成株式会社

Inventor： 堀边隆介 ,  安田博

IPC: G01B11/00

Abstract: 位置检测装置具有多个发光部、受光部、低频截止部以及位置检测部。多个发光部将根据不同相位的调制信号序列而进行了强度调制的检测光射出。受光部接收检测光由对象物反射后的反射光并变换为电信号。位置检测部基于利用低频截止部而衰减的电信号，对对象物的位置进行检测。如果将根据调制信号序列而进行强度调制的调制期间的最初或者中途的期间设为第1期间、且将除了第1期间以外的期间设为第2期间，则低频截止部使得作为第1期间的截止频率的第1截止频率高于作为第2期间的截止频率的第2截止频率。

公开(公告)号：CN114279321A

公开(公告)日：2022-04-05

申请号：CN202111149877.3

申请日：2021-09-29

Applicant: 丰田合成株式会社

Inventor： 堀边隆介 ,  安田博

IPC: G01B11/00

Abstract: 位置检测装置具有多个发光部、受光部、AD变换部、位置检测部以及偏置部。多个发光部将根据不同相位的调制信号序列而进行了强度调制的检测光射出。受光部接收在对象物反射后的反射光并变换为模拟信号。位置检测部基于利用AD变换部变换的数字信号而对对象物的位置进行检测。偏置部将从受光部输出的模拟信号以偏置量的直流的电压电平进行偏置而输出至AD变换部。偏置部以使得输入至AD变换部的模拟信号的平均值接近AD变换部的输入电压范围的中间值的方式对偏置量进行调整。

公开(公告)号：CN114279320A

公开(公告)日：2022-04-05

申请号：CN202111147796.X

申请日：2021-09-29

Applicant: 丰田合成株式会社

Inventor： 堀边隆介 ,  安田博

IPC: G01B11/00

Abstract: 位置检测装置具有定时生成部、多个发光部、受光部、提取部、积分器以及运算部。定时生成部分别隔开间隔而反复生成不同相位的调制信号序列。多个发光部将根据调制信号序列而进行了强度调制的检测光射出。受光部接收由对象物反射的反射光并变换为电信号。运算部基于积分器的积分输出而对对象物的位置进行计算。在对具有与此次的调制信号序列进行相位同步的分量的信号波进行积分之前，积分器预设为针对具有与上次的调制信号序列进行了相位同步的分量的信号波的积分输出的最终值。