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发明公开
测定装置、测定系统、测定方法以及程序无效

公开(公告)号：CN113597536A

公开(公告)日：2021-11-02

申请号：CN202080022677.9

申请日：2020-03-26

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 松永翔吾 , 户田启介 , 伊藤广繁 , 堀之内直树

IPC: G01F1/66 , A61B5/0285 , G01P5/26

Abstract: 测定装置具备发光部、受光部、放大部以及运算处理部。发光部向在内部流动流体的被照射物照射光。受光部对包含由被照射物散射的光的干扰光进行受光，并输出与该干扰光的强度相应的信号。放大部对从受光部输出的信号进行放大。运算处理部针对由放大部放大了的信号的强度的时间变化，计算每个频率的信号强度所涉及的第1频谱，并且通过包含使用了第1值和第2值的除法的运算，计算流体的流动的状态所涉及的计算值。第1值是基于第1频谱的频率所涉及的值。第2值是基于第1频谱的强度所涉及的值。

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