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发明公开
扫描装置以及测距装置审中-实审

公开(公告)号：CN115335721A

公开(公告)日：2022-11-11

申请号：CN202180022426.5

申请日：2021-03-03

Applicant: 京瓷株式会社 , 京瓷办公信息系统株式会社

Inventor： 长屋竜也 , 冈田浩希 , 高桥大助 , 水谷秀次

IPC: G01S7/481 , G02B26/10

Abstract: 扫描装置包括第一照射部、第二照射部、扫描部、导波部以及检测部。第一照射部照射用于扫描对象物的第一电磁波。第二照射部照射第二电磁波。扫描部使由第一照射部照射的第一电磁波和由第二照射部照射的第二电磁波偏转并输出。导波部将由扫描部输出的第二电磁波的至少一部分引导至与第一电磁波不同的方向。检测部检测被导波部引导至与第一电磁波不同的方向的第二电磁波。

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