-
公开(公告)号：CN112840182B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN201980060560.7
申请日：2019-08-09
Applicant: 仪器系统有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于监测光谱辐射计(4)的方法，尤其用于测量发光测试对象(1)的方法，其中，借助光学系统检测测试对象(1)的光谱数据，其中，由所述光谱数据求取测试对象(1)的辐射度参量、光度参量和/或色度参量。本发明的任务是说明一种用于监测光谱辐射计(4)的方法，其中，首要的不是对光谱辐射计(4)持续地进行再校准，而是监测何时需要校准。本发明通过如下方式解决该问题：通过测量集成到该光学系统中的、具有所定义的光谱的参考光源(5)，根据该参考光谱来探测光谱辐射计(4)在波长刻度方面、在光吞吐量方面和/或在光谱灵敏度方面的改变。可选地，至少一个集成到该光学系统中的探测器可以附加地监测该参考光源(5)的稳定性。此外，本发明涉及一种用于执行该方法的设备。
Search Results
1
records
(took 0.028 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
