公开(公告)号：CN104508504A

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201380040709.8

申请日：2013-07-11

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： P.罗伊 ,  T.伊梅

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01M99/008 ,  G01M99/004 ,  G01R31/2865 ,  G01R31/2881

Abstract: 根据本发明，提供一种用于测试部件的性能的组件，该组件包括：可转动转台，其包括多个部件装卸头，部件装卸头中的每一个可以保持部件；可旋转头组件，该可旋转头组件包括可旋转头，其中可旋转头包括一个或多个嵌套，嵌套中的每一个具有电接触件，并且嵌套中的每一个适合于接纳部件使得部件可以电连接到该嵌套的电接触件；其中嵌套还被配置成使得当可旋转头旋转时，其能保持部件使得部件保持电连接到电接触件；其中可旋转头被布置成邻近转台使得部件可以从转台上的部件装卸头直接传递到可旋转头上的嵌套；处理器，其布置成与可旋转头上的一个或多个嵌套的（多个）电接触件电连通使得处理器能向嵌套中保持的部件发送命令信号，命令信号造成部件以预定义方式操作，并且从部件接收响应信号，在部件由可旋转头旋转时，当部件以预定义方式操作时，部件生成响应信号；并且其中处理器被配置成从其接收的响应信号确定部件的性能。本发明还提供一种相对应方法。