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公开(公告)号：CN104856728B
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201510135986.8
申请日：2009-10-29
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 染田恭宏
Abstract: 公开了能够减少由光源输出的光的量随时间的变化而引起的图像变化的光声装置。所述光声装置包括：用脉冲光束照射检查对象的光源(2a)；检测由于脉冲光束在检查对象(3)中产生的声波的检测器(5)；测量光源(2a)的输出光的量的光量测量模块(8a)；和从由检测器(5)获取的检测信号获取与检查对象内部有关的信息的信号处理单元(15)。信号处理单元校正检测信号的强度以使得由输出光的量随时间的变化导致的检测信号的幅度的变化最小化。
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公开(公告)号：CN102596049B
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN200980162213.1
申请日：2009-10-29
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 染田恭宏
IPC: A61B8/08
CPC classification number: A61B5/0095 , A61B5/0059 , A61B5/0062 , A61B8/08 , A61B2576/00 , G01N21/1702
Abstract: 本发明公开了能够减少由光源输出的光的量随时间的变化而引起的图像变化的光声装置。所述光声装置包括：用脉冲光束照射检查对象的光源(2a)；检测由于脉冲光束在检查对象(3)中产生的声波的检测器(5)；测量光源(2a)的输出光的量的光量测量模块(8a)；和从由检测器(5)获取的检测信号获取与检查对象内部有关的信息的信号处理单元(15)。信号处理单元校正检测信号的强度以使得由输出光的量随时间的变化导致的检测信号的幅度的变化最小化。
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公开(公告)号：CN103561638B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201280026866.9
申请日：2012-05-11
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: H05B37/0227 , A61B5/0073 , A61B5/0095 , A61B5/489 , A61B5/6835 , A61B2560/04 , G01J1/44 , G01N21/1702 , G01N29/0672 , G01N29/14 , H05B37/02
Abstract: 为了通过防止照明光自由发射来改进光声装置的安全性。光声装置包括测量照明光发射端的取向和/或位置的位置传感器和根据位置传感器的输出来控制来自光源的光发射的控制单元。
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公开(公告)号：CN102596049A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN200980162213.1
申请日：2009-10-29
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 染田恭宏
IPC: A61B8/08
CPC classification number: A61B5/0095 , A61B5/0059 , A61B5/0062 , A61B8/08 , A61B2576/00 , G01N21/1702
Abstract: 公开了能够减少由光源输出的光的量随时间的变化而引起的图像变化的光声装置。所述光声装置包括：用脉冲光束照射检查对象的光源(2a)；检测由于脉冲光束在检查对象(3)中产生的声波的检测器(5)；测量光源(2a)的输出光的量的光量测量模块(8a)；和从由检测器(5)获取的检测信号获取与检查对象内部有关的信息的信号处理单元(15)。信号处理单元校正检测信号的强度以使得由输出光的量随时间的变化导致的检测信号的幅度的变化最小化。
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公开(公告)号：CN104856728A
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201510135986.8
申请日：2009-10-29
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 染田恭宏
CPC classification number: A61B5/0095 , A61B5/4312 , A61B5/4887 , A61B5/489 , A61B8/0825 , A61B8/085 , A61B8/0891
Abstract: 公开了能够减少由光源输出的光的量随时间的变化而引起的图像变化的光声装置。所述光声装置包括：用脉冲光束照射检查对象的光源(2a)；检测由于脉冲光束在检查对象(3)中产生的声波的检测器(5)；测量光源(2a)的输出光的量的光量测量模块(8a)；和从由检测器(5)获取的检测信号获取与检查对象内部有关的信息的信号处理单元(15)。信号处理单元校正检测信号的强度以使得由输出光的量随时间的变化导致的检测信号的幅度的变化最小化。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102057297B
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN200980121431.0
申请日：2009-04-03
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01S7/52049 , G01S15/8952
Abstract: 一种超声波图像形成方法包括：第一步骤，接收从物体反射的第一信号；第二步骤，基于如此接收的第一信号获得像差校正值；第三步骤，当基于像差校正值校正的第二超声波被发送到所述物体时，接收从该物体反射的第二信号；和第四步骤，从像差校正值和第二信号形成图像。第二超声波的中心频率在0.5MHz和20MHz之间，第一超声波的中心频率在第二超声波的中心频率的3/16和9/20之间。通过这种方法，可获得精确的像差校正值，并且即使像差大且难以校正，也可实现高分辨率的超声波成像。
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公开(公告)号：CN103561638A
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201280026866.9
申请日：2012-05-11
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: H05B37/0227 , A61B5/0073 , A61B5/0095 , A61B5/489 , A61B5/6835 , A61B2560/04 , G01J1/44 , G01N21/1702 , G01N29/0672 , G01N29/14 , H05B37/02
Abstract: 为了通过防止照明光自由发射来改进光声装置的安全性。光声装置包括测量照明光发射端的取向和/或位置的位置传感器和根据位置传感器的输出来控制来自光源的光发射的控制单元。
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公开(公告)号：CN100545999C
公开(公告)日：2009-09-30
申请号：CN200510098852.X
申请日：2005-09-09
Applicant: 株式会社日立高新技术 , 佳能株式会社
Abstract: 提供一种荷电粒子线应用装置。描绘时动态地检测晶片的电位，通过修正该电位，谋求提高在晶片上描绘的电路图形的位置精度。测定了晶片(101，试样)和接地引线(107，接触端子)形成的接触电阻后，测定从晶片(101，试样)经由接地引线(107，接触端子)流到接地电位的电流，根据测定结果将电位差赋予晶片(101，试样)和接地电位之间。
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公开(公告)号：CN102724919B
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201180007630.6
申请日：2011-01-26
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B8/0825 , A61B5/0095 , A61B8/4281
Abstract: 本发明采用测量装置，具有：用于保持受检体的保持板；设置在受检体和保持板之间的声匹配构件；以及探头，用于经由声匹配构件和保持板接收透过受检体传播的声波；其中，声匹配构件包括接触受检体的第一部分和接触保持板的第二部分，并且第二部分具有比第一部分更大的刚性。
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公开(公告)号：CN103099644A
公开(公告)日：2013-05-15
申请号：CN201310028573.0
申请日：2009-06-17
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B8/4416 , A61B5/0035 , A61B5/0095 , A61B8/0825 , A61B8/14 , A61B8/145 , A61B8/4444 , A61B8/4494 , A61B8/483 , A61B8/5238
Abstract: 提供了一种超声探测器和包含超声探测器的检查对象成像装置，所述超声探测器即使在超声波检查法中使用的超声波的频带和光声波的频带相互分开时，也能够形成图像而没有劣化。超声探测器包含能够发送和接收超声波的第一阵列器件；以及能够接收光声波的第二阵列器件。第一阵列器件包含沿与扫描方向垂直的方向布置的多个机电变换器，第二阵列器件包含以二维方式布置的多个机电变换器，并且，第一阵列器件和第二阵列器件在同一平面上且沿扫描方向被设置。
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