一种测试装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111161524A

    公开(公告)日:2020-05-15

    申请号:CN201911265245.6

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明实施例公开了一种测试装置,所述装置包括:现场可编程逻辑门阵列FPGA模块、数字信号处理器DSP模块和精简指令微处理器ARM模块;其中,所述ARM模块,用于设置参数,并将所述参数发送给所述DSP模块;所述FPGA模块,用于接收遥测信号,对所述遥测信号进行信道化处理,并将信道化处理后的信号发送至所述DSP模块;所述DSP模块,用于对所述信道化处理后的信号进行解调处理,并将解调后的信号返回至所述FPGA模块;以及基于所述参数发送遥控信号至所述FPGA模块。

    一种基于多点补偿方案的低杂散正弦信号发生器

    公开(公告)号:CN107040214A

    公开(公告)日:2017-08-11

    申请号:CN201710126647.2

    申请日:2017-03-03

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种基于多点补偿方案的低杂散正弦信号发生器,该基于多点补偿方案的低杂散正弦信号发生器包括一个主数模转换模块,其为有效位数高的低速D/A转换器,负责正弦波形输出;以及一个高速D/A产生谐波抵消信号ξ(t),用于抵消主数模转换模块产生的正弦波形中的谐波分量,两路信号通过加减运算电路进行减法运算后输出,最终得到谐波抵消后的正弦电压输出,该低杂散正弦信号发生器克服了现有技术中有效位数与转换速度不可兼得的缺陷,在有效地降低了正弦信号发生器产生的正弦波中的谐波分量的同时,能够保证正弦信号发生器的模数转换速度,获得波形畸变率较低的正弦波信号。

    一种测试装置
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111161524B

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN201911265245.6

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明实施例公开了一种测试装置,所述装置包括:现场可编程逻辑门阵列FPGA模块、数字信号处理器DSP模块和精简指令微处理器ARM模块;其中,所述ARM模块,用于设置参数,并将所述参数发送给所述DSP模块;所述FPGA模块,用于接收遥测信号,对所述遥测信号进行信道化处理,并将信道化处理后的信号发送至所述DSP模块;所述DSP模块,用于对所述信道化处理后的信号进行解调处理,并将解调后的信号返回至所述FPGA模块;以及基于所述参数发送遥控信号至所述FPGA模块。

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