长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法

    公开(公告)号:CN1517700A

    公开(公告)日:2004-08-04

    申请号:CN03100491.1

    申请日:2003-01-16

    Abstract: 本发明涉及一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法,更确切地说是在正常照明条件下,全过程自动测试长余辉荧光粉发光特性的自动测试装置及测试方法的发明。它由模拟D65光源、电动快门、测试器、光度计、照度监视器和计算机CPU构成。模拟D65光源通过激发路光纤分别与电动快门、照度监视器连接,电动快门又经测量路光纤接测试器,测试器通过测量路光纤接光度计,光度计、电动快门、照度监视器及模拟D65光源又通过电缆分别与计算机CPU相连。本发明其结构设计简单,布局紧凑,操作简便。可在正常照明条件下,准确地全过程的自动对长余辉荧光粉发光特性进行测试,可获得完整的理想测试结果。

    长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法

    公开(公告)号:CN100594371C

    公开(公告)日:2010-03-17

    申请号:CN03100491.1

    申请日:2003-01-16

    Abstract: 本发明涉及一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法,更确切地说是在正常照明条件下,全过程自动测试长余辉荧光粉发光特性的自动测试装置及测试方法的发明。它由模拟D65光源、电动快门、测试器、光度计、照度监视器和计算机CPU构成。模拟D65光源通过激发路光纤分别与电动快门、照度监视器连接,电动快门又经测量路光纤接测试器,测试器通过测量路光纤接光度计,光度计、电动快门、照度监视器及模拟D65光源又通过电缆分别与计算机CPU相连。本发明其结构设计简单,布局紧凑,操作简便。可在正常照明条件下,准确地全过程的自动对长余辉荧光粉发光特性进行测试,可获得完整的理想测试结果。

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