公开(公告)号：CN112731110A

公开(公告)日：2021-04-30

申请号：CN202011598615.0

申请日：2020-12-29

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 杨博 ,  李宗昆 ,  李志超

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明涉及一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统，属于无线电计量技术领域，解决了微波器件测试效率低下、无法满足自动化测试需求的问题。方法步骤为：配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令和测试子项；测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；在每一待测频点下执行测试过程，若在每一待测频点下的测试均通过，则微波器件测试通过；每一待测频点下执行的测试过程包括：微波器件基于电平控制指令及参考微波信号生成变频微波信号；频谱分析仪基于测试子项中的配置指令及数据获取指令，从变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；判断测试数据是否满足相应技术指标，若均满足，则在当前待测频点下的测试通过。

公开(公告)号：CN112731110B

公开(公告)日：2023-08-18

申请号：CN202011598615.0

申请日：2020-12-29

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 杨博 ,  李宗昆 ,  李志超

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明涉及一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统，属于无线电计量技术领域，解决了微波器件测试效率低下、无法满足自动化测试需求的问题。方法步骤为：配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令和测试子项；测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；在每一待测频点下执行测试过程，若在每一待测频点下的测试均通过，则微波器件测试通过；每一待测频点下执行的测试过程包括：微波器件基于电平控制指令及参考微波信号生成变频微波信号；频谱分析仪基于测试子项中的配置指令及数据获取指令，从变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；判断测试数据是否满足相应技术指标，若均满足，则在当前待测频点下的测试通过。