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发明公开
一种材料发射率测量方法与装置审中-实审

公开(公告)号：CN116148307A

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN202111384751.4

申请日：2021-11-22

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 邱超 , 杨旺林 , 王加朋 , 黄亮 , 曹清政 , 杨淑辉

IPC: G01N25/20 , G01N21/84

Abstract: 本发明提供一种材料发射率测量方法与装置，包括加热器、试验件、温控单元、辐射测量单元、标准漫反射板和计算单元，所述的试验件放置在所述的加热器上，所述的加热器保证试验件始终保持同样的温度，所述的温控单元调节环境温度，所述的辐射测量单元测量试验件和不同环境温度下标准漫反射板的辐射亮度，所述的辐射测量单元将获得的辐射亮度值传送给所述的计算单元，所述的计算单元通过发射率计算公式计算获得试验件的发射率。本发明减小了一个误差的输入，从而提高了发射率测量的精度。

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