公开(公告)号：CN110988655A

公开(公告)日：2020-04-10

申请号：CN201911307485.8

申请日：2019-12-17

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 邱少军 ,  于孟国 ,  王晶 ,  王惠 ,  赵娜 ,  杨盼

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明涉及用于微波芯片全频段信号质量检测的装置、系统及方法，属于芯片测试技术领域，解决微波芯片的无损检测问题，装置包括测试装具、微波输入端口、微波输出端口和控制单元；测试装具用于无损安装待测微波芯片；微波输入端口外接微波信号源，用于为所述待测微波芯片提供基准信号源；微波输出端口外接频谱分析仪，用于将所述待测微波芯片产生的微波信号输出到频谱分析仪进行信号分析；控制单元包括至少一个控制输入端口，用于接收控制指令，产生覆盖微波芯片全频段的频率控制字，控制所述待测微波芯片的输出相应频率的微波信号。本发明制造成本低、结构简单；测试过程简单、便捷，适用于批量测试。

公开(公告)号：CN212207573U

公开(公告)日：2020-12-22

申请号：CN201922274503.9

申请日：2019-12-17

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 邱少军 ,  于孟国 ,  王晶 ,  王惠 ,  赵娜 ,  杨盼

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/04 ,  G05B19/042

Abstract: 本实用新型涉及一种微波芯片检测装置，属于芯片测试技术领域，解决微波芯片的无损检测问题，装置包括测试装具(2)、控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)；测试装具(2)，用于无损安装待测微波芯片；控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)分别通过测试装具(2)与待测微波芯片的控制端口、微波输入端口和微波输出端口连接；输入端口(4)外接微波信号源(9)，用于为待测微波芯片提供信号源；输出端口(5)外接频谱分析仪(10)，用于检测待测微波芯片的输出信号；控制单元(3)，用于产生控制信号，控制待测微波芯片输出信号的参数。本实用新型制造成本低、结构简单；测试过程简单、便捷，适用于批量测试。