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公开(公告)号:CN2844843Y
公开(公告)日:2006-12-06
申请号:CN200520122120.5
申请日:2005-09-27
Applicant: 北京普析通用仪器有限责任公司
IPC: G01B5/24
Abstract: 本实用新型公开了一种高精度测角仪,包括:箱体、固定轴、θ轴、2θ轴、第一涡轮和第二涡轮,固定轴为圆筒形,并固定在箱体上,θ轴通过第一、第二组钢珠和相适配的第一、第二轴套可转动套装在固定轴内部,2θ轴通过第三、第四组钢珠可转动套装在固定轴外部,所述第一涡轮通过第一螺母压靠在所述第一轴套上,所述第四组钢珠通过第二螺母靠压在所述2θ轴下端。本实用新型在相对转动的双轴之间直接采用钢珠一次定位,因此消除了不必要的定位间隙,并且通过调节螺母,消除了轴向间隙,达到长期稳定运行的效果。
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公开(公告)号:CN2901302Y
公开(公告)日:2007-05-16
申请号:CN200520122122.4
申请日:2005-09-27
Applicant: 北京普析通用仪器有限责任公司
IPC: G01N23/207 , H05K7/20
Abstract: 本实用新型公开了一种高能量分辨率固体阵列检测器,包括:晶元片、初级放大器电路、脉冲多道分析处理系统和信号处理系统,所述晶元片上刻蚀有若干条间距相等的长方型Si-PIN片阵列,所述Si-PIN片将探测信号传输给初级放大器电路放大整形,再经脉冲多道分析处理系统分析处理后传输给信号处理系统;其中,所述晶元片通过一高压电源供电,该高压电源由所述信号处理系统控制。本实用新型通过采用阵列的Si-PIN器件及相应的脉冲多道分析处理系统,再通过软件的处理,达到了提高多晶X射线衍射仪整体图谱的强度和分辨力的目的。
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公开(公告)号:CN2844957Y
公开(公告)日:2006-12-06
申请号:CN200520122121.X
申请日:2005-09-27
Applicant: 北京普析通用仪器有限责任公司
Abstract: 本实用新型公开了一种用于X射线衍射仪的全反射平行光狭缝,该狭缝为在X射线出射光路上对称设置有两片长度适当的反光板,所述反光板的相对面延光路为适当几何弯曲形状。本实用新型由于在X射线源出射光路上设置两片具有适当形状的反光板构成一个有壁狭缝,因此可以获得较宽的准平行的射线束,从而大大提高了入射到样品的射线束的总强度,能够有效地增强衍射线的强度。
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