公开(公告)号：CN101131370A

公开(公告)日：2008-02-27

申请号：CN200610111339.4

申请日：2006-08-23

Applicant: 北京普析通用仪器有限责任公司

Inventor： 田宇纮

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明涉及一种双光路全反射X荧光分析仪，包括至少两只不同的激发源(X光管)、上反射体、下反射体、载样片、样品压环，所述的两只不同的激发源共用同一电源并可自动切换。两只激发源与载样片和样品压环之间，各设有上反射体和下反射体，所述的上反射体和下反射体之间有很小间距，X射线以非常小的掠射角射入该间隙，并在上反射体和/或下反射体的反射面上产生全反射，最终到达被测样品处。本发明所述双光路全反射X荧光分析仪的优点在于：可以使用于测试不同的元素，使用中不需要多次更换激发源，多次切断电源、调整光路等，可以明显提高测试效率。并使得在分析灵敏度上由于使用不同激发源而得到互补提高，可操作性和方便性明显，能更好地满足使用者要求。

公开(公告)号：CN101131369A

公开(公告)日：2008-02-27

申请号：CN200610111338.X

申请日：2006-08-23

Applicant: 北京普析通用仪器有限责任公司

Inventor： 田宇纮

IPC: G01N23/083

Abstract: 本发明所述的一种薄样和厚样兼容测量的X射线能谱仪，包括X射线出射窗口、安全光闸机构、X射线管、干扰光阻断结构、探测器、薄样品插槽。其中X射线出射窗口与X射线光束同轴，薄样品插槽设于X射线出射窗口与X射线管之间，干扰光阻断结构设于X射线管与探测器之间，安全光闸机构设于X射线管以及探测器与X射线出射窗口之间。本发明所述一种薄样和厚样兼容测量的X射线能谱仪的优点在于：它有效的结合了薄、厚样技术检测仪的长处，既能满足一般工矿单位对样品进行简单方便快捷的测量，又可以得到更高精度的测量结果，满足实验研究的需要。

公开(公告)号：CN101131369B

公开(公告)日：2010-06-02

申请号：CN200610111338.X

申请日：2006-08-23

Applicant: 北京普析通用仪器有限责任公司

Inventor： 田宇纮

IPC: G01N23/20

Abstract: 本发明所述的一种薄样和厚样兼容测量的X射线能谱仪，包括X射线出射窗口、安全光闸机构、X射线管、干扰光阻断结构、探测器、薄样品插槽。其中X射线出射窗口与X射线光束同轴，薄样品插槽设于X射线出射窗口与X射线管之间，干扰光阻断结构设于X射线管与探测器之间，安全光闸机构设于X射线管以及探测器与X射线出射窗口之间。本发明所述一种薄样和厚样兼容测量的X射线能谱仪的优点在于：它有效的结合了薄、厚样技术检测仪的长处，既能满足一般工矿单位对样品进行简单方便快捷的测量，又可以得到更高精度的测量结果，满足实验研究的需要。

公开(公告)号：CN2938083Y

公开(公告)日：2007-08-22

申请号：CN200620131714.7

申请日：2006-08-23

Applicant: 北京普析通用仪器有限责任公司

Inventor： 田宇纮 ,  商颖健

IPC: G01N23/223 ,  H05G1/02

Abstract: 本实用新型所述的一种调整X射线管位置的机械结构，包括设备壳体和安装于设备壳体之内的具有金属外壳的X射线管、升降轴、升降支架、升降电机、俯仰支架和俯仰电机，本实用新型所述一种调整X射线管位置的机械结构的优点在于：由于所选择的旋转调节轴方向穿过X射线管靶面中心点(从铍窗射出的X射线的理论出发点)，一方面此位置非常接近X射线管的重心位置，升降支架基本上受到正压力，所受弯矩很小，因此基本上不会产生弯曲变形使垂直运动增加阻力，机构功能更可靠；另一方面，由于X射线管射出的X射线角度存在理论值，通过光路计算可推算出较为接近理论的X射线出射方向，方便预先设置调整的初始位置给调光带来方便，提高效率最终实现光路的要求。