一种基于偏振光栅的光弹性应力测量系统及方法

    公开(公告)号:CN117589348A

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202311599002.2

    申请日:2023-11-28

    Applicant: 南京大学

    Inventor: 张伟华 赵小燕

    Abstract: 本发明公开了一种基于偏振光栅的光弹性应力测量系统及方法。该应力测量系统沿光路方向依次包括光源、起偏器、待测光弹性样品和偏振光栅,光源发出的光经起偏器被转换为线偏振光,透过部分经过光弹性样品光矢量在两个主应力方向被分为两个组分,偏振光栅使得入射的线偏振光的衍射分布仅在±1级和0级上,光弹性模型具有双折射特性,从光弹性模型中出射的线偏振光束在偏振光栅的作用下被衍射到±1级和0级,绝大部分在±1级为圆偏振光束,极少部分偏振状态与入射偏振状态相同的光分布在0级。本发明解决了传统的光弹性测应力方法设备复杂、测量结果不准确、相位延迟与光弹性模型主应力方向的角度两个信息不可分离等问题。

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