公开(公告)号：CN104914164B

公开(公告)日：2017-12-29

申请号：CN201510260826.6

申请日：2015-05-21

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 卜雄洙 ,  侯亚宾 ,  许有昌 ,  王新征 ,  张振 ,  宛静 ,  耿永健 ,  严曙 ,  孟哲

IPC: G01N29/06

Abstract: 本发明公开了一种基于DAC曲线的超声波C扫描成像方法，本方法将检测时超声探伤系统所获得的回波高度与所拟合的DAC曲线相应声程处的高度进行对比，得出两者dB差值，根据其差值或者最高回波高度所位于的曲线区间进行颜色值调制，结合探伤系统扫查装置所处的工件位置生成C扫描图像。本方法采用了DAC曲线，可补偿材料衰减、近场效果、声速散射及表面粗糙等因素产生的影响，在定量分析时可避免后续C扫描图像的边缘检测、分割等处理，可根据调制C扫描图像时的颜色设定，直观的确定出工件缺陷当量大小或范围，从而省略缺陷分析时的像素统计步骤，降低检测结果处理的复杂性。

公开(公告)号：CN104914164A

公开(公告)日：2015-09-16

申请号：CN201510260826.6

申请日：2015-05-21

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 卜雄洙 ,  侯亚宾 ,  许有昌 ,  王新征 ,  张振 ,  宛静 ,  耿永健 ,  严曙 ,  孟哲

IPC: G01N29/06

Abstract: 本发明公开了一种基于DAC曲线的超声波C扫描成像方法，本方法将检测时超声探伤系统所获得的回波高度与所拟合的DAC曲线相应声程处的高度进行对比，得出两者dB差值，根据其差值或者最高回波高度所位于的曲线区间进行颜色值调制，结合探伤系统扫查装置所处的工件位置生成C扫描图像。本方法采用了DAC曲线，可补偿材料衰减、近场效果、声速散射及表面粗糙等因素产生的影响，在定量分析时可避免后续C扫描图像的边缘检测、分割等处理，可根据调制C扫描图像时的颜色设定，直观的确定出工件缺陷当量大小或范围，从而省略缺陷分析时的像素统计步骤，降低检测结果处理的复杂性。