隔膜探測系統 MEMBRANE PROBING SYSTEM
    1.
    发明专利
    隔膜探測系統 MEMBRANE PROBING SYSTEM 失效
    隔膜探测系统 MEMBRANE PROBING SYSTEM

    公开(公告)号:TWI223088B

    公开(公告)日:2004-11-01

    申请号:TW091118858

    申请日:2002-08-21

    IPC: G01R

    CPC classification number: G01R1/0735

    Abstract: 一種隔膜探測總成,包含探針卡,上面支持有導體,其中導體包含至少一信號導體,位於一對隔開的保衛導體之間。隔膜總成包含一隔膜,上面有觸點,並支持至少一信號導體,位於一對隔開的保衛導體之間。探針卡的保衛導體,在探針卡和隔膜總成間相接處附近相互接電。隔膜總成的保衛導體在探針卡和隔膜總成間相接處附近相互接電。

    Abstract in simplified Chinese: 一种隔膜探测总成,包含探针卡,上面支持有导体,其中导体包含至少一信号导体,位于一对隔开的保卫导体之间。隔膜总成包含一隔膜,上面有触点,并支持至少一信号导体,位于一对隔开的保卫导体之间。探针卡的保卫导体,在探针卡和隔膜总成间相接处附近相互接电。隔膜总成的保卫导体在探针卡和隔膜总成间相接处附近相互接电。

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