一种基于ACYOLOV4_CSP的印刷电路板微小缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN112651966A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN202110062673.X

    申请日:2021-01-18

    Abstract: 本发明涉及一种基于ACYOLOV4_CSP的印刷电路板微小缺陷检测方法。包括:步骤S1、利用LabelImg标注工具对高分辨率的原数据集的每张图片进行标注,即标注印刷电路板的缺陷类别和位置;标注完成后,对标注后的数据集进行预处理,得到训练集;步骤S2、将训练集喂给ACYOLOV4‑CSP网络,得到检测印刷电路板微小缺陷的ACYOLOV4‑CSP模型;步骤S3、利用检测印刷电路板微小缺陷的ACYOLOV4‑CSP模型对待检测印刷电路板图像进行检测,若有缺陷,将输出带检测框和类别信息的图像,若无缺陷,将输出和输入图像一样的结果图像。本发明能够实现对印刷电路板缺陷快速、准确地定位和分类,实现了速度与精度的最优平衡。

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