基于改进粒子群算法的数字微流控芯片故障检测方法及系统

    公开(公告)号:CN106886843B

    公开(公告)日:2020-08-07

    申请号:CN201710183533.1

    申请日:2017-03-24

    Abstract: 本发明涉及一种基于改进粒子群算法的数字微流控芯片故障检测方法及系统,属于微数字微流控芯片故障检测领域,为了解决现有技术的数字微流控芯片故障检测方法故障定位时间较长的缺点,而提出一种基于改进粒子群算法的数字微流控芯片故障检测方法,包括:获取测试液滴的起始位置和终点位置;构建禁忌表;构建至少一个粒子群,为每个粒子群构建与其对应的位置矩阵;确定粒子群算法中每个粒子的速度向量,直至所有相邻电极均被遍历;根据公式更新粒子的位置序列;计算每个粒子的位置向量的适应度,并分别确定每个种群当前最短路径以及全局最短路径;重复上述步骤,直至达到预定的迭代次数,输出全局最短路径。本发明适用于数字微流控芯片的故障检测。

    一种基于微流控芯片技术的便携式COD检测装置

    公开(公告)号:CN107064216B

    公开(公告)日:2019-07-02

    申请号:CN201710258108.4

    申请日:2017-04-19

    Abstract: 一种基于微流控芯片技术的便携式COD检测装置,涉及COD检测技术,为了解决现有的COD检测技术中样品和反应试剂消耗大、过程繁琐、检测周期长、检测装置体积大、不便于携带的问题。存储装置用于单独存储待测样品和反应试剂,驱动装置用于将待测样品和反应试剂均运送至微流控检测芯片,微流控检测芯片上设有微流道,待测样品和反应试剂在微流道中混合,温度检测装置用于检测待测样品和反应试剂的化学反应放热,数据处理显示模块用于对温度检测装置输出的数据进行处理,得到温度值,并进行显示,根据温度值得到COD值,废液收集装置用于收集化学反应后的废液。本发明适用于检测水体的化学需氧量COD。

    一种基于微流控芯片技术的便携式COD检测装置

    公开(公告)号:CN107064216A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201710258108.4

    申请日:2017-04-19

    CPC classification number: G01N25/4873 G01N25/488

    Abstract: 一种基于微流控芯片技术的便携式COD检测装置,涉及COD检测技术,为了解决现有的COD检测技术中样品和反应试剂消耗大、过程繁琐、检测周期长、检测装置体积大、不便于携带的问题。存储装置用于单独存储待测样品和反应试剂,驱动装置用于将待测样品和反应试剂均运送至微流控检测芯片,微流控检测芯片上设有微流道,待测样品和反应试剂在微流道中混合,温度检测装置用于检测待测样品和反应试剂的化学反应放热,数据处理显示模块用于对温度检测装置输出的数据进行处理,得到温度值,并进行显示,根据温度值得到COD值,废液收集装置用于收集化学反应后的废液。本发明适用于检测水体的化学需氧量COD。

    基于禁忌搜索与人工势场法相结合的数字微流控芯片在线测试方法

    公开(公告)号:CN106934173B

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN201710184028.9

    申请日:2017-03-24

    Abstract: 本发明涉及一种基于禁忌搜索与人工势场法相结合的数字微流控芯片在线测试方法,属于数字微流控芯片故障测试领域,本发明为了解决现有的在线测试方法大多针对于定制的、具有特殊电极布局的数字微流控芯片,因而导致实际应用范围较窄的问题,针对具有规则的长方形电极布局的数字微流控芯片,提出一种基于禁忌搜索与人工势场法相结合的数字微流控芯片在线测试方法,包括:建立数字微流控芯片在线测试的数学模型;构建邻接列表;设置初始参数;计算从当前节点的可选邻域内各节点所受到的合力值,根据合力值及禁忌表选择下一节点;更新禁忌表;判断路径是否完整;判断迭代次数是否达到预设值。本发明适用于数字微流控芯片的在线测试路径优化问题。

    一种基于热量变化及微流控芯片技术的COD检测方法

    公开(公告)号:CN107024505A

    公开(公告)日:2017-08-08

    申请号:CN201710263347.9

    申请日:2017-04-19

    Abstract: 一种基于热量变化及微流控芯片技术的COD检测方法,涉及一种COD检测方法,具体涉及在微流控芯片上进行热量检测来实现COD检测的方法。本发明为了解决当前的COD检测方法存在的周期较长、易造成二次污染的问题。本发明首先基于微流控芯片进行热量变化检测,分别在微流控芯片中装载反应试剂和水样进行放热反应,采集温度数据峰值,并将采集到的温度数据峰值作为反应温度,根据反应温度得到反应电压数据及反应电压数据差值;根据反应电压数据差值与被测水样COD的线性关系实现对被测水样COD的检测。本发明适用于被测水样的COD检测。

    基于改进粒子群算法的数字微流控芯片故障检测方法及系统

    公开(公告)号:CN106886843A

    公开(公告)日:2017-06-23

    申请号:CN201710183533.1

    申请日:2017-03-24

    Abstract: 本发明涉及一种基于改进粒子群算法的数字微流控芯片故障检测方法及系统,属于微数字微流控芯片故障检测领域,为了解决现有技术的数字微流控芯片故障检测方法故障定位时间较长的缺点,而提出一种基于改进粒子群算法的数字微流控芯片故障检测方法,包括:获取测试液滴的起始位置和终点位置;构建禁忌表;构建至少一个粒子群,为每个粒子群构建与其对应的位置矩阵;确定粒子群算法中每个粒子的速度向量,直至所有相邻电极均被遍历;根据公式更新粒子的位置序列;计算每个粒子的位置向量的适应度,并分别确定每个种群当前最短路径以及全局最短路径;重复上述步骤,直至达到预定的迭代次数,输出全局最短路径。本发明适用于数字微流控芯片的故障检测。

    基于改进Dijkstra算法和IPSO结合的数字微流控芯片故障修复方法

    公开(公告)号:CN109190259B

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN201811044287.2

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 基于改进Dijkstra算法和IPSO结合的数字微流控芯片故障修复方法,涉及数字微流控芯片故障修复领域,为了解决现有的数字微流控芯片故障修复方法的用时长、效率低的问题。该方法包括:步骤一、基于改进Dijkstra算法计算两个待混合液滴之间的最短路径;改进Dijkstra算法为在现有Dijkstra算法中引入代价函数,代价函数引导现有Dijkstra算法向到起点距离最短、到终点距离最短和到故障点距离最长的方向进行搜索;步骤二、基于IPSO计算移动路径,实现在保证混合完成的条件下,液滴移动距离最短,完成故障修复。本发明适用于修复数字微流控芯片的故障。

    基于禁忌搜索与人工势场法相结合的数字微流控芯片在线测试方法

    公开(公告)号:CN106934173A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201710184028.9

    申请日:2017-03-24

    Abstract: 本发明涉及一种基于禁忌搜索与人工势场法相结合的数字微流控芯片在线测试方法,属于数字微流控芯片故障测试领域,本发明为了解决现有的在线测试方法大多针对于定制的、具有特殊电极布局的数字微流控芯片,因而导致实际应用范围较窄的问题,针对具有规则的长方形电极布局的数字微流控芯片,提出一种基于禁忌搜索与人工势场法相结合的数字微流控芯片在线测试方法,包括:建立数字微流控芯片在线测试的数学模型;构建邻接列表;设置初始参数;计算从当前节点的可选邻域内各节点所受到的合力值,根据合力值及禁忌表选择下一节点;更新禁忌表;判断路径是否完整;判断迭代次数是否达到预设值。本发明适用于数字微流控芯片的在线测试路径优化问题。

    基于改进遗传算法的数字微流控芯片故障修复方法

    公开(公告)号:CN109214090A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201811046057.X

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 基于改进遗传算法的数字微流控芯片故障修复方法,涉及数字微流控芯片故障修复领域,为了解决现有的数字微流控芯片故障修复方法的用时长、效率低的问题。建立数字微流控芯片的数学模型,确定数字微流控芯片的操作序列图,设定每代染色体的数目、交叉概率和变异概率,编码产生初始染色体,重复以下步骤:对每条染色体进行解码,计算每条染色体的适应度,根据染色体的适应度选择染色体进入下一代,染色体进行交叉、变异,直至达到迭代次数要求,得到故障修复结果。本发明适用于修复数字微流控芯片的故障。

    基于改进遗传算法的数字微流控芯片故障修复方法

    公开(公告)号:CN109214090B

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN201811046057.X

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 基于改进遗传算法的数字微流控芯片故障修复方法,涉及数字微流控芯片故障修复领域,为了解决现有的数字微流控芯片故障修复方法的用时长、效率低的问题。建立数字微流控芯片的数学模型,确定数字微流控芯片的操作序列图,设定每代染色体的数目、交叉概率和变异概率,编码产生初始染色体,重复以下步骤:对每条染色体进行解码,计算每条染色体的适应度,根据染色体的适应度选择染色体进入下一代,染色体进行交叉、变异,直至达到迭代次数要求,得到故障修复结果。本发明适用于修复数字微流控芯片的故障。

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