公开(公告)号：CN103969230B

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201410040012.7

申请日：2014-01-27

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 白岩久志 ,  镰田刚史 ,  三岛俊介

IPC: G01N21/64

Abstract: 提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。测量装置(1)具备：光源(52)，其用于对荧光体照射激励光；受光部(10)，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及检测部(200)，其用于检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体(12)，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部(14)，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗(18)，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。

公开(公告)号：CN112747902A

公开(公告)日：2021-05-04

申请号：CN202011196495.1

申请日：2020-10-30

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 三岛俊介 ,  大岛浩正

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/42

Abstract: 本发明提供一种光学测定方法和处理装置。光学测定方法包括以下步骤：获取已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯的第一检测结果；获取已被赋予针对至少一部分波长范围与第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯的第二检测结果；计算关于第一波长范围与第二波长范围重复的波长范围的波长的校准系数的校正值；至少基于第一校准系数和校正值来决定第三校准系数；获取第三标准灯的第三检测结果；以及基于第三检测结果和第三校准系数，来对第三标准灯赋予测光量的值。

公开(公告)号：CN103969230A

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201410040012.7

申请日：2014-01-27

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 白岩久志 ,  镰田刚史 ,  三岛俊介

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。测量装置(1)具备：光源(52)，其用于对荧光体照射激励光；受光部(10)，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及检测部(200)，其用于检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体(12)，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部(14)，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗(18)，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。